TT220涂层测厚仪
产品简介
详细信息
涂层测厚仪TT220
涂层测厚仪产品介绍:
涂层测厚仪TT220采用了磁性测厚法,是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、
精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、
化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工
程现场测量。
涂层测厚仪要功能
涂层测厚仪可进行零点校准及二点校准。
涂层测厚仪可对测头进行基本校准。
涂层测厚仪设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
测试次数(NO)、涂层测厚仪标准偏差(S.DEV)。
涂层测厚仪可存贮和统计计算15个测量值。
涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
涂层测厚仪具有自动关机功能。
涂层测厚仪删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存
贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
涂层测厚仪操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。
涂层测厚仪主要技术指标
涂层测厚仪测量原理:磁性法
涂层测厚仪测量范围: 1~1250μm
涂层测厚仪测量精度:±(3%H+1)μm(零点校准)
±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)