JMK-300P 影像测量仪/光学影像测量仪
产品简介
详细信息
有点,线,圆,两点距离, 角度等基本量测功能，有坐标平移和坐标转换功能；
OVM Lite影像量测软件；
可以摄取被测物体的图像；
Z轴具有光学尺，可以量测高度；
接激光指示器，精确指示当前量测位置；
LED冷光源（底光和表面光）手动可调；
花岗石底座和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；
接脚踏开关，打点操作方便；
手动操作,可以切换快速移动；
测量数据可以输出到EXCEL,WORD中或将其量测元素的几何图形导入到CAD软件中；
可以接高性能接触式探针，做高度测量。
OVM Lite影像量测软件；
可以摄取被测物体的图像；
Z轴具有光学尺，可以量测高度；
接激光指示器，精确指示当前量测位置；
LED冷光源（底光和表面光）手动可调；
花岗石底座和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；
接脚踏开关，打点操作方便；
手动操作,可以切换快速移动；
测量数据可以输出到EXCEL,WORD中或将其量测元素的几何图形导入到CAD软件中；
可以接高性能接触式探针，做高度测量。
- (X/Y/Z轴)量测行程：300＊200＊200 ā mm
- 全机尺寸：1000＊650＊1650 mm
- 机台底座和立柱材料：高精度花岗石
- 光源材质：LED冷光源
- X,Y轴量测精度：（3+L/200）um
- 光学放大率：0.7--4.5X
- 总放大倍率：28--180X（影像放大倍率）
- 光学尺解析度：1 um
- 量测重复性：2 um
- 操作方式：手动
- 显示器：纯平
- CCD：3D Family,41万像素，彩色
- 机台承重：30kg