(TT211)北京时代TT211覆层测厚仪
产品简介
详细信息
采用磁性测厚法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度
= 英文菜单显示方式
= 单次测量方式
= 直接方式，新的测量值将替掉旧的测量值
= 只需做零点校准，使用简单
= 单位制式：英制、米制
技术参数
| 测头类型 | Ｆ | |
| 工作原理 | 磁感应 | |
| 测理范围 | ０～1250mm | |
| 低限分辨率 | 10mm | |
| 示值误差 | 零点校准（mm） | ±(3%H+1.) |
| 测试条件 | zui小曲率半径（mm） | 凸1.5 |
| zui小面积直径（mm） | Ø7 | |
| 基体临界厚度（mm） | 0.5 | |
| 使用环境 | 温度 | 0-400C |
| 温度 | 20%-90% | |
| 无强磁场环境 | ||
| 电源 | 二节AAA型1.5V（7号）干电池 | |
| 外型尺寸 | 110＊50＊23（mm） | |
| 重量 | 约100g | |