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微位移激光干涉仪ZLM800

供应商：
上海贝丁汉工业自动化设备有限公司
企业类型：
经销商

产品简介

由德国JENAer公司生产的微位移测量激光干涉ZLM800仪，主要用于微位移部件的测量，角度变化量的监测，运动平台变化量的检测，及光刻机几何量的测量，数控机床几何量的测量等。

详细信息

产品功能
    ZLM800微位移测量激光干涉仪——双频激光干涉仪，主要用于各种平台和部件的微位测量、各种摆镜角度变化量的监测、运动平台位移量和角度变化的检测、光刻机几何量的测量、数控机床几何量的测量等，zui多可实现六轴联动。也可通过位移+偏摆+俯仰的三角关系测量检测物体的振动变化。

性能优势 技术参数

型号：ZLM800
使用高性能PCI或单片机式数据处理器
He-Ne激光平均波长：
632.8 nm
激光稳频精度：
一小时2x10-9（±0.002ppm）
寿命内2x10-8（±0.02ppm）
系统精度（0-40℃时）：
±0.4ppm
光束直径：
6mm （可选3.2mm）
激光管突发zui大输出功率：
5mW （激光等级2）
每束光可测量的轴数：
zui多6个
线性测量距离：
2m
角度测量范围：
± 3.5'
zui大速度：
2m/s
zui大加速：
无限制
zui高采样频率：
内部1MHz，外部40MHz
预热时间：
10分钟
位移测量分辨率：
1.25nm
位移测量精度：
±0.4ppm （μ/m）
角度测量分辨率：
0.003μrad
角度测量精度：
±0.1ppm实测值
数据接口：
积分信号
32 Bit （实时时间）
Dt » 20 ns
数据分析标准：
ISO230/VDI3441/VDI2617/NMTBA
工作环境：
温度：15°C-30°C
湿度：<90%无冷凝
储存环境：
温度：10°C-40°C
湿度：<95%无冷凝

应用案例

l          真正意义上的双频激光干涉仪，频差为640MHz。请用户注意“激光干涉仪”和“双频激光干涉仪”概念的区别，*双频激光干涉仪精度更好、性能更稳定。世界范围内只有两家双频激光干涉仪的生产商，德国耶拿尔公司是其中的一家。
l          全部部件皆在德国生产制造，绝非为了降低成本而在第三方国家进行部件加工。光学组件全部采用蔡司光学镜，是世界上*一家将*的蔡司光学镜用于激光干涉仪领域的产品制造商。
l           激光器寿命更长，可达20000小时，激光稳频精度高，一小时内为±0.002ppm，在产品寿命内可达±0.02ppm。
l          干涉镜采用差分干涉原理，系统精度更高，可达±0.4ppm。
l          计算机辅助光路调整，调整结果更准确。
l          采样频率更快，zui高达1MHz，可在0.001Hz-1MHz之间进行选择。
l          被测物体zui大速度16m/s（可选）；采用高精度AE950 PCI数据处理器，分辨率达0.6nm（当移动速度为1m/s时，线性分辨率更可高达为0.1nm）。
l          无加速度限制；当光线微弱时，性能也十分稳定。
l          信号延时<200ns；对电磁干扰不敏感。
l          对于多轴联动的复杂光路测量和微位移测量，ZLM800型是理想的选择。


 

以下是为*某项目设计的ZLM800双频激光干涉仪两个应用案例。在*个案例中，用两个3轴角度干涉仪分别监视两个摆镜的摆动，实时测试两个摆镜对应量（俯仰、偏摆和位移）的差异情况。在第二个案例中，用一个3轴角度干涉仪来测试摆镜的镜面摆动情况，2个单轴位移干涉仪检测一个两轴位移平台的运动情况。


 
 
下述案例是为国内某研究所某项目设计的ZLM800测量系统。用户预先把被测物体放置在密闭箱中，密闭箱留有观察窗口。所需要测量的数据是被监视目标Ⅰ、被监视目标Ⅱ的X、Y向的角度变化量，以及这两个目标在Z方向的相对变化量。


ZLM800部分光路图示例


从X、Y和Z方向同时测量被测物体的位移，其中X和Y在一个水平层面上

从X、Y和Z方向同时测量被测物体的位移，其中X和Y不在一个水平层面上

在水平方向同时测量出被测物体的位移、偏摆和俯仰角度变化（上图）
 
在垂直方向同时测量出被测物体的位移、偏摆和俯仰角度变化（上图）
 
 
同时从X和Y方向测量被测物体的位移变化（上图）
 
同时从X和Y方向测量运动平台两个层面的位移变化（上图）
 
同时从X和Y方向测量位移、偏摆和俯仰的角度的变化（1）
 
同时从X和Y方向测量位移、偏摆和俯仰的变化（2）
 
同时从X和Y方向测量位移、偏摆和俯仰的变化（3）


资料下载
复杂光路测量的应用.pdf
系统应用简介.pdf

 
 
如果用户有更复杂的光路需求，垂询！