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电气设备/工业电器电源EPS电源

EPMA-1720 Series EPMA-1720 Series 电子探针

供应商:
深圳市瑞盛科技有限公司
企业类型:
其他

产品简介

可在微区领域进行高灵敏度、高精度分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘、Windows操作系统,使用方便,保证安全。EPMA-1720H型配备高性能CeB6灯丝,实现了在亚微米领域的分析实用化。

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详细信息

可在微区领域进行高灵敏度、高精度分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘、Windows操作系统,使用方便,保证安全。EPMA-1720H型配备高性能CeB6灯丝,实现了在亚微米领域的分析实用化。

分析元素:4Be~92U

X射线分光器:  高灵敏度型

zui大样品尺寸:100*100*50(t)mm

X射线取出角:52.5°

二次电子分辨率:6nm(EPMA-1720H为5nm)

从软件到硬件凝结了技术,铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度•高精度•高分辨率的基础上,又新增了简单•易懂的操作性能,将电子探针功能发挥至*。既可满足初学者简易操作的需求,又能适合专家级的科研分析。

 



高灵敏度 • 高精度 • 高分辨率 「简单•易懂的操作」

 

 

从软件到硬件凝结了技术,铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度•高精度•高分辨率的基础上,又新增了简单•易懂的操作性能,将电子探针功能发挥至*。既可满足初学者简易操作的需求,又能适合专家级的科研分析。

*设计的X射线分光器可以实现高灵敏度•高精度分析

X射线取出角决定分析性能,52.5°高取出角更胜*


  


图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。

 

 

 


从SEM观察到开始分析,简便易行,大幅度提高工作效率。


同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像

在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。


SEM图像和光学图像在同一显示器上,减少视线的移动。



通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。

 

 

只需单击一下即可开始SEM图像观察。

只需点击【SEM AUTO】图标,就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。

 

束流变换更加简单• 快速• 高精度,且保持聚焦。

只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制,束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。