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仪器仪表测量计量仪器温度测量仪

20001IS—726E-004 Kaefer薄膜测厚仪,厚度测量仪

供应商：
北京伊斯来福机电设备有限公司
企业类型：
代理商

产品简介

测厚仪 20012IS
分度值 0.01 mm
测量范围 0 – 10 mm
弓形架深度 50 mm
误差极限 15 µm

测厚仪 20093IS
分度值 0.01 mm
测量范围 0 – 0.5 mm
弓形架深度 50 mm
界面 RS 232
误差极限 5 µm


测厚仪 20009IS
分度值 0.01 mm
测量范围 0 – 10 mm
弓形架深度 18mm
误差极限 15 µm

详细信息

测厚仪

<

测厚仪 J 50

厚仪 FD 50

测厚仪 J 15


测厚仪 20012IS
分度值 0.01 mm
测量范围 0 – 10 mm
弓形架深度 50 mm
误差极限 15 μm


测厚仪 20093IS 
分度值 0.01 mm
测量范围 0 – 0.5 mm
弓形架深度 50 mm
界面 RS 232
误差极限 5 μm


测厚仪 20009IS
分度值 0.01 mm
测量范围 0 – 10 mm
弓形架深度 18mm
误差极限 15 μm

 

测厚仪技术参数

型号分度值
mm		量程
mm		颈深
mm		提升器

测量头形状

标准型可选，非标准型
20001IS 0,1 1015无 6,35 mm Φ 平头  10 mm Φ 平头,凸起或球形
20045IS 0,1 2050无6,35 mm Φ 平头 10 mm Φ 平头,凸起或球形
20002IS 0,11015无 ca, b, d 或 e
20066IS 0,1 1050有 c a, b, d 或 e 
20003IS0,1 2050无 c a, b, d 或 e 
20004IS0,1 3050无 c a, b, d 或 e 
20043IS0,1 5050无 c a, b, d 或 e 
20005IS0,1 30100无 c a, b, d 或 e 
20006IS0,1 30200有 c a, b, d 或 e 
20007IS0,1 30300有 c a, b, d 或 e 
20008IS0,1  30400有 c a, b, d 或 e 
20042IS0,01812有 6,35 mm Φ 平头球形 
20009IS0,011018有 6,35 mm Φ 平头10 mm Φ平头, 凸起或球形
20011IS0,011045有 6,35 mm Φ 平头10 mm Φ平头, 凸起或球形
20012IS0,011050无 ca, b, d 或 e
20067IS 0,01 1050有 c a, b, d 或 e 
20048IS0,01 1050有 c a, b, d 或 e 
20099IS0,01 1050有 c a, b, d 或 e 
20015IS0,01 3050无 c a, b, d 或 e 
20076IS 0,01 3050有 c a, b, d 或 e 
20087IS0,01 2550有 c a, b, d 或 e 
20013IS0,01 550有滚子测头  
20038IS 0,01 550有滚子测头，无侧面夹合垫片  
20086IS0,01 1050有滚子测头  
20098IS 0,01 1050有滚子测头，无侧面夹合垫片  
20039IS0,01 1050有适合测量管壁  
20049IS0,01 1050有适合测量管壁  
20055IS0,01 2050有适合测量波纹  
20014IS0,01 10100有 c a, b, d 或 e 
20051IS0,01 10100有 c a, b, d 或 e 
20079IS0,01 30100有 c a, b, d 或 e 
20089IS0,01 25100有 c a, b, d 或 e 
20017IS0,01 10200有 c a, b, d 或 e 
20052IS0,01 10200有 c a, b, d 或 e 
20018IS0,01 30200有 c a, b, d 或 e 
20046IS0,01 25200有 c a, b, d 或 e 
20019IS0,01 10300有 c a, b, d 或 e 
20053IS0,01 10300有 c a, b, d 或 e  
20083IS0,001 130有 6,35 mm Φ 平头上测量头为半球形
20084IS0,001 130有 6,35 mm Φ 平头上测量头为半球形 R15
      上测量头为半球形 R 40
      平头 10 mm Φ 球形
      下测量头为半球形 R 15 
20080IS0,001 550有 c a, b, d 或 e 
20054IS0,0011050有 c a, b, d 或 e 
20093IS0,001 2550有 c a, b, d 或 e 
20095IS0,001 25100有 c a, b, d 或 e 
20047IS0,001 25200有 c a, b, d 或 e 

 

CORDIX 快速测厚仪

CORDIX 快速测厚仪
CORDIX 快速测厚仪

CORDIX 快速测厚仪
CORDIX 快速测厚仪

CORDIX 快速测厚仪
CORDIX 快速测厚仪



快速测厚仪因其测量范围和测量深度广泛、测头形式多等优点，在生产中得到了广泛应用。
由特殊轻金属合金制作而成的高刚性构架，使操作更为简便并且适应长时间测量。测头和指示表壳具有防腐性。SERIE 3000的直角测杆可以zui大限度的减小摆动对于测量的影响，尤其是可以避免扭转对测量带来的干扰。
应用时，请注意正确选择测量仪的测量深度（T）、测量范围（B）和测头（F）

 

CORDIX 快速测厚仪参数表:

SERIE 3000

1/10mm

[F]=测头形式

型号

测量范围[B]=mm

测量深度[T]=mm

 

 

 

 

 

 

 

 

a

b

c

d

e

f

h

i

726M-001

0-10

15

 

●*

 

 

 

 

 

 

726M-002

0-25

30

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-003

0-30

50

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-004

 

 

 

 

 

 

 

 

●

●

726M-005

 

150

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-006

 

275

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-007

 

420

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-008

 

600

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-009

0-50

50

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-010

 

 

 

 

 

 

 

 

●

●

726M-011

 

275

●

●

●

●

〇

〇

 

 

726M-012

30-80

50

●

●

●

●

〇

〇

 

 

　SERIE

 1/100mm

注： ●标准测头；〇特殊测头

726M-013

带偏差表 0-10

50

●

●

●

●

 

726M-014

●

●

●

●

726M-015

150

●

●

●

●

726M-016

275

●

●

●

●

726E-001

带数显表 0-10

50

●

●

●

●

726E-002

●

●

●

●

726E-003

150

●

●

●

●

726E-004

275

●

●

●

●

注：CORDIX快速测厚仪要定期依据. DIN ISO 9000 ff标准进行重新校准；请寻求. KORDT提供校准服务。我们根据要求提供带质量证书的检具并提供定期的校准。

详情请咨询北京伊斯来福：陈,:islive@islive.com.cn，
或者访问产品详情页面薄膜测厚仪,厚度测量仪