VERTEX X射线检测系统
产品简介
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
详细信息
X-RAY 检测机
VERTEX X射线检测系统
VJ Electronix Vertex A系列功能强大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单精确的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
苏州和谐电子技术有限公司 ：
系统基础参数
型号 | A-75 | A-90 | A-130 | A-150 |
光源 | 75kV | 90 kV | 130 kV | 150 kV |
焦点大小 | 45μ | 5μ | 6μ | 5μ |
空间分辨率 | ﹥10 lp/mm | ﹥40 lp/mm | 40 lp/mm | ﹥40 lp/mm |
总放大倍率-标配摄像头 | ﹥24X | ﹥130X | ﹥70X | ﹥60X |
总放大倍率-高分辨率摄像头 | ﹥29X | ﹥240X | ﹥130X | ﹥110X |
zui大视野（可视zui大区域） | ﹥2” | ﹥1.6” | ﹥2” | ﹥2” |
编程能力 | 选配 | 标配 | ||
设备尺寸 | 70”×50”×62”(D×W×H) （2000mm×1422mm×1575mm） | |||
离轴防护：可用1或2个轴夹具；检测范围：20” ×24”； zui大基板尺寸：20?” ×24?” | ||||