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仪器仪表物性测试仪器测厚仪

920 X射线测厚仪920

供应商:
浙江蓝箭仪器有限公司
企业类型:
代理商

产品简介

利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。

X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

详细信息

它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。

 

镀层测厚仪X-Strata系列提供:

 

无损分析:无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益

操作简单,只需要简单的培训

分析只需三步骤

杰出的分析准确性和精确性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本.

 

一款操作简单的质量控制分析仪,满足镀层厚度测量和材料分析。

 

新型号设计

 

快速分析(几秒)1-4层镀层厚度

多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型

开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等

符合ISO3487和ASTM B568检测方法