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荧光增白剂检测仪 型号：DP106530
DP106530荧光增白剂检测（LCD显示）仪适用于食用菌荧光增白剂、包装袋增白剂污染、huang曲霉素添加剂、水果、禽蛋等检测。在食品行业中检测香菇，蘑菇、食用菌的护色，面粉中荧光增白剂、huang曲霉素、食品添加剂、变质的蔬菜、水果、可可豆脂、巧克力、脂肪、蜂蜜、糖、蛋、纸杯和食品包装等。被测样品中仪器暗箱内紫外光源照射后，如果产生荧光，就可判断被测样品中含有荧光增白剂。
荧光增白剂检测仪 型号：DP106530性能优势：
紫外灯管发出的光经滤色片滤去可见光，从而为荧光分析强烈紫外光。
●液晶数码显示，可以显示仪器工作状况
采用微电脑进行控制，准确率高
操作简单，无需专业人员，检测速度快，即出检测结果。
●海量存储，可存储5000张以上图片
●仪器箱体两侧设有双向操作口，前开门设计，方便取放样品
通过数码相机微电脑控制，将样品传送到电脑，并对图像进行保存、分析、查询
用户可通过箱体直接观察到暗室内的样品
●LED白光；中文显示；触摸开关；延迟关闭紫外功能；单片机控制
特别设计防紫外线观察口，使操作人员避免紫外线损伤
USB2.0接口方便数据转移
体积小、重量轻、便于携带
●分析判断软件（选配）
技术参数:
依据行标:NY/T1257-2006
USB2.0接口
紫外短波波长：254nm
紫外长波波长：365nm
可见光源
紫外滤色片尺寸：200×50mm
工作电源: 220V交流电源
使用温度: 0℃-40℃
使用湿度: ＜90% (40℃)
仪器功耗: 20W
充电电压/电池容量 12.6V/9800mAH

石粉含量测定仪/石粉含量检测仪 型号：DP-1

一、适用范围
    本仪器是按照*T0349-2005规范，〈细集料*试验〉而设计的仪器。采用了*的调频、数控、技术,提高了试验精度与速度。是试验室*之仪器。 本方法适用于确定细集料中是否存在膨胀性粘土矿物，并测定其含量，以评定集料的洁净程度，以*值MBV表示。本方法适用于小于2.36mm或小于0.15mm的细集料，也可用于矿粉的质量检验。当细集料中的0.075mm通过率小于3%时，可不进行此项试验即作为合格看待。
二、技术参数
电源电压：220V                 zui大转速：600转/±10转
zui小转速：400转/min±10转     叶轮直径：75mm±10mm
叶轮个数：3 个                 烧杯容积：1000mL
叶轮直径：75mm±10mm

半导体粉末电阻率测试仪/粉末电阻率测试仪 型号：DP-FZ-2006
本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关标准设计的。 仪器的电流输出为 10 µA - 100 mA ，电阻率测试范围为 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用数字显示。仪器的可靠性和
稳定性大大增强，更方便于用户， 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。
适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统, 高度测量的测试台和仪器组成.
仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器，加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量精度高，稳定性好，重复性好，使用方便等特点， 并有自校功能。
本仪器采用通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差，克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。
本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。
技术参数；
测量范围：
电阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
电阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm
测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字）
测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字）
测量电流：0 - 100 mA 连续可调，
电流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
试样粒度：40 目以下 - 60 目以上（标准筛网）纳米粉末
试样容器：内腔Φ16.30 ± 0.1mm
试样高度：16mm ± 0.5mm 
测量误差：±0.1mm
取样压力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
压力量程：0 - 100 kg 可调
显示方式: 电阻、电阻率、压力为 3 1/2 数字显示,并自动显示单位和小数点
电源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
外形尺寸电气箱：440mm×120mm×320mm
备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用

半导体电阻率测试仪/电阻率测试仪/半导体电阻率测定仪(含探头和测试架） 型号：DP-BD-86A
DP-BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美国ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和技术上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪，具有测量精度高，稳定性好，输入阻抗高，使用方便、价格低廉等特点。
   仪器主要技术指标：
1．  测量范围：电阻率10-3—103Ω-cm，分辩率为 10-4Ω-cm ，可扩展到105Ω-cm
  方块电阻10-2—104Ω/□，分辩率为10-3Ω/□，可扩展到106Ω/□
薄层金属电阻10-4—105Ω，分辩率为10-4Ω
2.可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm；  长度：150mm(可扩展500mm)
     3.测量方式：轴向、断面均可
4．数字电压表：（1）量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V
             （2）测量误差：±0.3%读数±1字
             （3）输入阻抗：大于108Ω
             （4）显示3 1/2 位红色发光二极管（LED）数字显示
                  0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示
5．恒流源：由交流供电，具有良好的防泄漏隔离功能
（1）       直流电流：0—100mA连续可调
（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
（3）       分辩率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
（4）       电流误差：±0.3%读数±2字
6．电性能模拟考核误差：<±0.3%符合ASTM指标
7．测试探头：（1）探针机械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指标
8．电源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W
9．电气箱外形尺寸：119×440×320mm

数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪 型号：DP-SZT-2000
DP-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状
半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。
仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。
仪器主要技术指标：
1．  范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm
         方块电阻10-3—103Ω /□
         电阻10-6—105Ω
2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
  (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）
              2 mV档以上±（0.3%读数+2字）
  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
              20mV档以上>108Ω
  (4)显示3 1/2位数字显示，0—1999
具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示
5．  恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给
   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档
   （3）电流误差：±（0.3%读数+2字）
6．四探针测试探头  （1）探头间距：1mm   (2)探针机械游率：±0.3%
                   (3) 探针：Φ0.5mm    (4)压力：可调
  7. 测试架：
  （1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。
  （2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。
   8.电流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W
9．    外形尺寸：电气箱130×110×400mm

温馨提示：以上产品资料和图片全都是按照顺序相对应的
  
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