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内箱尺寸：450x1170x500

外箱尺寸：500x1380x1480

 日异复杂的产品寿命周期所要求的高质量和高可靠性能可通过光老化试验系统来实现。光老化试验是一种被广泛认可的用于获得可靠结果的试验方式，因为它能模拟出真实的试验条件，如作为加速试验因素之一的可控温度。经验证明，产品在寿命周期的早期故障大多发生在zui初的1000/2000工作时间内。光老化试验正是为了消除产品的所谓"早期失效率"。DOAHO提供了各种类型的老化试验系统，并可在光老化试验的过程中直接监测元器件的性能。