K-GXW 数显光学测量显微镜
产品简介
详细信息
K-GXW数显光学测量显微镜
一、数显光学测量显微镜
它备有精密的测量装置,可广泛用于电子行业和细小精密零件检测、装配、修理;印刷线路板,印刷丝网板的检定,还可以用于生物解剖和珠宝鉴定等。常用于电线电缆绝缘和外被之壁厚测试,测试结果为电子数显可直接读数不需计量,测量精度高误差小,可用此仪器取代UL1581,250.9,240.14,250.5,250.10,260.8,280.2测量仪器.。
二、主要参数
1、主机定倍:2x/4x
2、目镜放大倍数:10X
3、总放大倍数:20x/40x
4、视场直径:10~30mm
5、工作距离:95mm
6、测量工作台:
X轴移动测量范围:0~25mm;精度:0.01mm(螺纹)精度:0.001mm(电子数显)
Y轴移动测量范围:0~25mm精度:0.01mm(螺纹)精度:0.001mm(电子数显)
7、圆刻度盘分度范围:0~360°圆刻度盘精度:1°
8、照明:透射光,冷反卤素灯照明。