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仪器仪表物性测试仪器试验箱

108L 温度冲击试验箱

供应商:
东莞市伟煌试验设备有限公司
企业类型:
生产厂家

产品简介

温度冲击试验箱采用蓄冷方式,为待测产品静置冷、热交替冲击方式.广泛使用与电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。

详细信息

          温度冲击试验箱

产品简介:

温度冲击试验箱采用蓄冷方式,为待测产品静置冷、热交替冲击方式.广泛使用与电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。

详细资料

一、用途

  温度冲击试用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGAPCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.

  

二、特点

  1.产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物*静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.

  2.采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,zui大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;

  3.箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。

  4.具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.*科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的*可靠性

  5.可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜. 出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

  6.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计,冷冻机组采用欧美*压缩机,并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507R23.*安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

三: 主要技术指标

1、工作室尺寸:测试区  450mm×600×400D×W×H 外箱尺寸:1950×1080×1550mm(D×W×H

2、温度范围: 高温箱+60℃~200 低温箱-40~-10

3、温度波动度:±0.5

4、温度误差:≤±3
5
、升温速率:30℃~+150℃ ≤30min

6、降温速率:+30℃~-55℃ ≤75min

以上指标均在常压、空载条件情况下测试。

7、样品转换时间:≯15

8、温度恢复时间.

9、+150℃~-40℃温度冲击恢复时间,≤5min

试验状态:预冷温度:-55

10、-40℃~+150℃温度冲击恢复时间,≤5min

试验状态:预热温度:180

温度冲击恢复时间以传感器测试位置为准

11、电 源:380V50HZ;三相五线制.

12、功 率:约45KW.

13、传感器位置:出风口;

四:满足的试验方法

1GB2423.189 试验A低温试验方法

2GB2423.289 试验B高温试验方法

3GB2423.2289 试验N温度变化试验方法

4GJB150.3-86 高温试验

5GJB150.486 低温试验方法

6GJB150.586 温度冲击试验

7、产品执行标准

8GB1058989 低温试验箱技术条件

9GB1115889 高温试验箱技术条件

10GB10592-89 高、低温试验箱技术条件

11、配件技术资料及附件

12、技术资料:产品合格证、使用说明书、电气原理图、保修卡、外购件合格证及外购件使用说明书等

13、附件:易损件一套。