化工机械设备网

1.精密脉冲微束等离子焊机HADM-50

精密脉冲微束等离子焊机HADM-50采用 MOSFET 技术，为高频逆变式直流等离子焊

机。配合水冷式等离子弧焊枪，适应材料厚度 0.15--1.8mm 不锈钢薄件的等离子

弧焊接和等离子弧堆焊、等离子弧喷涂。具有氩弧焊无法替代的微小电流电弧指

向性。适用于低碳钢、高低合金钢、不锈钢、钛合金、铜、镍及其合金的焊接，

能满足精密焊接的需要。

焊机特征：

※本焊机采用 MOSFET 逆变技术，优质元器件制造而成。

※采用数显电流，带有可以调节的维弧电流、初弧/收弧电流、脉冲电流、 电流缓升时间、电流衰减时间、滞气保持时间、脉冲频率等。可全面设置各种焊 接工艺参数

※具有高效、节能、可靠、焊接性能优良等特点。

※具有提前送气、离子气保护气预调功能，可自动高频引弧、并具有*的 电网补偿能力。

※高负载能力、高防护等级、适应恶劣环境的能力。

主要技术参数

HAD-4 微束等离子焊枪

主要参数：

2.介电常数和介质损耗测试仪 型号：HAD-Y2855

HAD-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

HAD-Y2855介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz～100MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

特点：
本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005。

能对固体绝缘材料在100kHz～100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态，调谐电容值等。

Q值量程自动/手动量程控制。

DPLL合成发生1kHz～70MHz（HAD-Y2852D）, 50kHz～160MHz（HAD-Y2853D）测试信号。独立信号源输出口，

所以本机又是一台合成信号源。

测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%

Q表

2.3 介质损耗装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：
HAD-Y916D:Φ38mm和Φ50mm二种.
HAD-Y915:Φ38mm .
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：
0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性：
0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：
±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：
25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:
≤2.5×10-4

2.4 电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配100μH或250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

2.5 高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

3.介电常数测试仪  型号：HAD-Y2858

HAD-Y2858系列 介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。     

HAD-Y2858系列介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～1MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

HAD-Y2858系列中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。

1 特点：                            
◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～10⁵

2 主要技术指标：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε和D变化的测试。

2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

2.2高频阻抗分析仪和数字电桥

2.3 HAD-Y916B 介电常数测试装置（含保护电极）

2.3.1 平板电容器极片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二种可选.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插头间距：与电桥四端配合

加温控温装置(选购设备)可以完成zui高200℃控温精度l℃加热测试

HAD-Y918 精密介电常数测试装置提供四种不同直径测试电极，能对直径φ10～56mm，

厚度<10mm的试样精确测量。它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和

非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

2.4.1 微分头分辨率：10μm

2.4.2 zui高耐压：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 电缆长度设置：1m

2.4.4 zui高使用频率：30MHz 

2.5 高频介质样品（选购件）：
  在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪

提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，

氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。

用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

2.6 HAD-Y2858系列 介电常数测试仪配置

4.全自动菌落计数仪系统 型号：HAD-HICCA

HAD-HICCA成像装置

方便对焦的大景深1000万像素（3264x2448像素）彩色拍摄仪，悬浮暗视野、背光可切换2平皿同时成像分析超薄台板

适应培养皿：50～180mm及A5幅面内的矩形平板，同时测定2个90mm平皿（倾注、涂布、膜滤、螺旋平皿、3M纸片）

HAD-HICCA菌落计数分析

自动识别统计：菌落智能识别技术，自动识别大规模团状、链状粘连的长形杆菌（显微形态大片粘连的大肠杆菌、病菌孢子）及平皿上的各类菌落（含金色葡萄球菌计数（国标GB4789.37-2010）、大肠菌群测定（国标GB/T4789.3-2010））。可自动形成批处理向导，实现一键式自动计数

自动计数精度≥96.5%，zui多jian视修正3.5%，即达100%正确。分析统计速度：150～800个菌落/s，2个平皿分析时每个平皿成像+计数总耗时≤5秒

菌落粘连分割：自动分割相互成片粘连的长形、圆形等菌落目标，用户可选择分割或不分割。还可手动分割、合并菌落目标图像

颜色形状识别：具有快速水平集提取技术，可按20类分类识别计数特定颜色、形状的菌落数量，并可类别转换修正。可同时选择6个目标区自动分别分析，并自由增减或编辑分析目标区

菌落形态分析：自动获得各菌落面积、等效直径、长轴、短轴、长宽比、圆度、周长、形状系数等。可按形态指标过滤查询。

鼠标点击修正，*剔除网格及文字，自动剔除杂质，有效支持复杂微生物统计，符合GB 47892-2010的参数自动换算特性。

导出查询与升级：分析图像与数据结果可保存，自动形成Excel或PDF文档报告。具有在线升级特性。

3 测量功能：还可测量抑菌圈直径（测量分辨率0.1mm），并可自动尺寸标定或人工标定。可鼠标拖动精确测量长度、角度、弧度、面积、弧线、任意曲线。

HAD-HICCA配置：

全自动菌落计数分析软件、锁及2平皿隔离框附件 1套

1000万像素彩色拍摄仪                   1台

悬浮暗视野/背光可换成像的超薄台板及附件 1套

一体机品牌电脑                          1台（选配）

5.紫外可见智能多参数测定仪 型号;HAD-3BA

测定项目一览表

Product Information