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仪器仪表物性测试仪器测厚仪

BX610-D400 涡流测厚仪/非磁性金属涂层膜厚仪

供应商:
北京百万电子科技有限公司
企业类型:
生产厂家

产品简介

涡流测厚仪/非磁性金属涂层膜厚仪/铝氧化层测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

详细信息

涡流测厚仪/非磁性金属涂层膜厚仪/铝氧化层测厚仪内容:

主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

天星涡流测厚仪自1993年开始生产以来,伴随着我国铝加工行业的成长,其自身也在不断改进和提高,目前其产品质量和测试精度达到国外仪器水平,其耐用性非常突出,超过国内外仪器。天星测厚仪以良好的质量,及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和认可,天星测厚仪在铝型材行业的*超过90%,成为该行业的产品。

涡流测厚仪/非磁性金属涂层膜厚仪/铝氧化层测厚仪仪器特点

﹡ 量程宽 ED400型涡流测厚仪量程达到0~500μm。

﹡ 精度高 测量精度达到2%。
﹡ 分辨率高 分辨率达到0.1μm。
﹡ 校正简便 只校正“0”和“50μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。
﹡ 基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于1~2μm。
﹡ 可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。
﹡ 稳定性提高 采用*的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场*使用。
﹡ 探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。

技术参数

测量范围: 0~500μm
测量精度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm;
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可选)
使用温度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 280g