菲希尔荧光镀层分析仪 XDL210华东代理
产品简介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
详细信息
菲希尔荧光镀层分析仪 XDL210华东代理
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。*多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。
XDL 型X 射线光谱仪有着良好的*稳定性，这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。菲希尔荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）。配备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选用自动测量的可编程工作台.
菲希尔荧光镀层分析仪 XDL210华东代理
典型应用领域 大批量电镀件测量
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电镀液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)
防腐保护性镀层: Zn/Fe 特征带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。*高工作条件:50KV,50W |
菲希尔X射线荧光镀层测厚仪设计理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。
应用示例 | |||
PCB 装配: 含铅量测试 |
防腐保护性镀层: Zn/Fe |
PCB测量: Au/Ni/Cu/PCB |
卫浴花洒: Cr/Ni/Cu/ABS |
菲希尔荧光镀层分析仪 XDL210华东代理技术参数
| 预期用途 | 能量色散X射线荧光光谱仪 （EDXRF） 用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。 |
| 元素范围 | *多同时测量从氯（Cl 17）到铀（U 92）之间的24 种元素 |
| 设计理念 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| X 射线源 | 带铍窗口的钨管 |
| 高压 | 三种高压： 30 kV，40 kV，50 kV，可调整 |
| 孔径（准直器） | Ø 0.3 mm （可选：圆形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形0.3 mm x 0.05 mm） |
| 测量点 | 取决于测量距离及使用的准直器大小；实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。zui小的测量点大小约Ø 0.16mm. |
测量距离 如测量室内部 | 0 ~ 80 mm，未校准范围，使用保护的DCM 功能 0 ~ 20 mm，已校准范围，使用保护的DCM 功能 |
| X 射线接收器 | 比例接收器 |
| 视频显微镜 | 高分辨 CCD 彩色摄像头，用于查看测量位置 |
| 放大倍数 | 20x ~ 180x （光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 设计 | 固定式样品平台 |
| 可用样品放置区域 | 463 x 500 mm |
| 样品*大重量 | 20 kg |
| 样品*大高度 | 155/90/25 mm |
| 外部尺寸 | 宽x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650 |
| 操作温度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 储藏或运输温度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |