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仪器仪表物性测试仪器测厚仪

38DL PLUS 美国泛美奥林巴斯测厚仪

供应商:
宁波瑞德检测仪器有限公司
企业类型:
经销商

产品简介

美国泛美奥林巴斯测厚仪可与双晶和单晶探头兼容。
宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层/沉积物软件选项。

详细信息

美国泛美奥林巴斯测厚仪主要特性

可与双晶和单晶探头兼容。
宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层/沉积物软件选项。
对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
厚度、声速和渡越时间测量。
差分模式和缩减率模式。
时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。
带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
设计符合EN15317标准。

美国泛美奥林巴斯测厚仪

美国泛美奥林巴斯38DL PLUS测厚仪技术规格

双晶探头测量模式

从激励脉冲后的准确延时到回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式

利用单个底面回波(使用D7906-SMD7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。

穿透漆层回波到回波测量模式

在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式

模式1:激励脉冲与底面回波之间的时间间隔。
模式2:延迟线回波与底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。
模式3:在激励脉冲之后,位于表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。
氧化层模式:可选。
多层模式:可选。

厚度范围

0.080毫米~635.00毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范围

0.508 mm/μs13.998 mm/μs

分辨率(可选择)

低分辨率:0.1毫米
标准分辨率:0.01毫米
高分辨率(可选项):0.001毫米

探头频率范围

标准:2.0 MHz30 MHz-3 dB
高穿透(可选项):0.50 MHz30 MHz-3 dB

一般规格

工作温度范围

-10°C50°C

键区

密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。

机壳

防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。

外型尺寸(宽 x x 厚)

总体尺寸:125毫米x211毫米x46毫米

重量

0.814公斤

电源

AC/DC适配器,24 V;锂离子电池,23.760 Wh;或4AA辅助电池。

锂离子电池供电时间

工作时间:12.6小时,一般14小时,14.7小时。快速充电:2小时到3小时。

标准

设计符合EN15317标准。

显示

彩色透反VGA显示

液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米

检波

全波、RF波、正半波、负半波

输入/输出

USB

1.0从接口。

RS-232

有。

存储卡

大容量:2 GB外置MicroSD存储卡。

视频输出

VGA输出标准。

内置数据记录器

数据记录器

38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。

容量

475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形。

文件名称、ID编码及注释

32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。

文件结构

9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。

报告

机载报告总结了数据统计、带有位置信息的MIN小值/MAX大值、MIN小值回顾、文件比较及报警报告。


价格以电议为准!

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