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1003C 8通道数字源表测试光耦案例

供应商:
武汉普赛斯仪表有限公司
企业类型:
生产厂家

产品简介

8通道数字源表测试光耦案例认准武汉生产厂家普赛斯仪表,S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的S先国产化的源表,集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大输出电压达300V,Z小电流分辨率10pA,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件,功率器件,传感器,有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

详细信息

普赛斯仪表数字源表测试光耦测试方案

N≤3路光耦测试:

     推荐N台S100

 4≤N ≤12路光耦测试:

     推荐CS400子卡+1003C主机:

     CS400支持4通道测试,1003C主机Z多支持3卡,12通道使用3*CS400+1*1003C

12≤N ≤40路光耦测试:

     推荐CS400子卡+1010C主机:

     CS400支持4通道测试,1010C主机Z多支持10卡, 40通道使用10*CS400+1*1003C

40≤N 路光耦测试:

     使用上述主机组合配置

以8通道测试方案为例,介绍以下两种检测方案:

方案一、8台S100台式源表同步测试

 

方案二、1003C+2*CS400

           3槽主机、2块4通道板卡共8通道同步测试

 

普赛斯数字源表具体参数如下:

S100测试范围:

CS400测试范围:

以上是关于8通道数字源表测试光耦案例的方案介绍,更多有关数字源表iv扫描光耦的信息找普赛斯仪表专员为您介绍