BSD-OM 微晶碳BET比表面及孔径分析仪
产品简介
详细信息
微晶碳BET比表面及孔径分析仪
在液氮温度下(77.3k), 向装有吸附剂的样品管内投入一定量的吸附质气体(N2),吸附过程(脱附)达到动态平衡后,系统前后将发生压力变化,通过气体状态方程:PV=nRT,计算得到该分压点的吸附量。然后绘制分压-吸附量的吸附脱附等温线曲线,根据不同比表面积理论计算模型计算得到样品的比表面积和孔径分布。
测试理论:
◆ 吸附、脱附等温线;
◆ BET单点法,多点法比表面 朗格缪尔(Langmuir)比表面;
◆ 统计吸附层厚度法外比表面(STSA)粒度估算报告和真密度;
◆ BJH法吸脱附孔容孔径分布;
◆ MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布;
◆ t-plot法微孔分析;
◆ MP法(Brunauer) 微孔分析;
◆ D-R法微孔分析;
◆ HK法微孔分析;
◆ DFT法微孔分析
产品:
◆2个样品预处理脱气站,1个样品分析站,1个P0测试位,2路独立冷阱;
(名称:静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置.号:ZL. 9)
◆独立的高精度饱和蒸汽压(P0)实时测试站;
(名称:静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸汽压测试装置.号:ZL.X)
◆饱和蒸气压螺旋P0管:采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管,与仪器主机连接,能够更快的达到液氮温度,是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样,解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题),提高测试精度。
(名称:饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪.号:ZL.2)
◆双冷阱保护真空系统和分子泵;
(名称:具有除尘防污染装置的静态容量法比表面及孔径分析仪.号:.X)
◆贝士德的脱气位滤尘袋,*消除对仪器内部结构的污染
结合贝士德的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置,能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能,*杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染,抽真空脱气时间缩短、效果提高。
(名称:具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪.号:ZL.3)
◆自动加盖:仪器必须具有液氮杯自动加盖功能,能够有效的减少液氮的挥发,同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰 ;
(名称:加盖装置及静态法比表面及孔径分析仪.号:ZL.40)
技术特色及优势:
◆BEST多路歧管系统
的 BEST 多路歧管系统,对控制阀进行整体集成设计,模块化组装,将真空管路减少到极限,将死体积空间降到,仪器密封性提高5倍以上,达到进口仪器水平。
◆的集成式模块化组装管路
真正意义上的全模块化气路结构,整个气路模块为整块不锈钢加工而来,无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口,*消除泄露点,整个腔体漏率低于 10-10Pa*m3/s;
◆*独立的脱气与分析真空系统
仪器配备两套独立的真空系统,既脱气系统和分析系统相互独立;脱气系统配备独立的双级机械真空泵,极限真空达到 10-2Pa,分析位配备独立“双级机械真空泵+德国涡轮分子泵”,极限真空达到 10-6Pa。
◆高精度分段压力测量
仪器的关键部件压力传感器采用电容硅薄膜压力传感器,读数精度误差≤+0. 15%。
测试报告:
标签:BET 比表面 介孔 微孔 BJH Langmuir DFT 催化剂 MOFs