数显显微熔点仪SGW®X-4
产品简介
详细信息
特点：
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示最小值： 1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
本公司产品的技术参数、价格等随产品发展而更改，请随时联系，以实际出厂产品为准。
特点：
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示最小值： 1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
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