仪器介绍：
宽广的温度范围，从 -100°C 到 500°C
无须更换检测器或炉体， LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100°C 到 500°C 的宽广温度范围。加上目前市场上种类的可选配件，开创了热物性测量的新天地。
进样器附有 16 个样品位，样品容纳量为原来的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品，大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮，保证仪器全天候不间断测量。
ZoomOptics 得到的测量结果更准确，减少测量误差
技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围，从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。
*的采样频率（2MHz），特别适合于薄膜样品
薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率，来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率，这是 LFA 系统的。
技术参数：
温度范围：-100°C ... 500°C，单一炉体非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程数据采集速率：高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）-- 对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间 10 倍）可低至 1ms，样品厚度可至 0.01 mm 以下（取决于具体的导热系数）热扩散系数测量范围：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)样品尺寸：
- 直径 6 mm ... 25.4 mm（包括方形样品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）16 个样品位的自动进样器20 多种支架类型丰富的测量模式，适应各种类型的样品。如各向异性材料，多层模式分析，薄膜，纤维，液体，膏状物，粉末，熔融金属，压力下的测试，等等。Zoom Optics 优化检测器的检测范围（技术）保护的 pulse mapping 技术（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脉冲宽度修正，可以提高比热值的测量精度气氛：惰性、氧化性、静态/动态、负压遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
