纳米红外扫描近场光谱和成像系统Anasys &
产品简介
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2015年Anasys发布了一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。
纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)
AFM-IR &s-SNOM
l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱*吻合，没有吸收峰的任何偏移
l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定
l 技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度
l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国机构的认可
l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择
l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：
l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）
l 洛仑兹接触共振模块（LCR）
l 导电原子力显微镜镜（CAFM）
l 开尔文电势显微镜（KPFM）
l 磁力显微镜（MFM）
l 静电力显微镜（EFM）
10纳米空间分辨率化学成像和光谱
石墨烯等离子体 高分辨率成像
石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像
PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。