超高真空薄膜X射线谱学系统 供应商：北京玉研精密仪器有限公司 企业类型：其他 在线询盘 进入展台 产品简介 该系统可以在超高真空条件下开展薄膜相关的掠入射X射线谱学实验。该系统配备有样品中转存放台，样品可以在不暴露大气的情况下，利用真空手提箱或者真空进样腔室传递到样品中转存放台上。在测试室对薄膜样品进行掠入射硬X射线吸收/衍射/散射信号的测量。该系统配置一个高精度六自由度并联位移平台，可带动整个腔体相对X射线光束线的精密位置调整。 详细信息 参数： 超高真空实验环境 样品变温测试环境（300K~1000K） XAFS实验（TEY全电子产额模式和PFY荧光产额模式可同时进行） GIXRD 掠入射衍射实验 超高真空条件下样品传递
