LT-XRD-RK X射线低温衍射仪实验台
产品简介
详细信息
试验台特点：
- 样品台温度范围：10-400k。
- 控温精度：±0.1k， PID参数自动调节控温。样品台放置样品大小：外径＜15mm。
- 样品腔与冷头真空管用波纹管连接；Z方向允许位移量±3mm。
- 样品台与冷头柔性连接，震幅RMS<10nm。>
- 预留外接Feedthough，可扩加变温条件下电学输运测量功能。
温控仪读数
温控仪通道B : 冷头端温度
温控仪通道C ：屏蔽罩温度
温控仪通道D ：样品台温度
超导外延薄膜变温衍射实验结果
