PXUT-F3 常规/TOFD探伤仪 PXUT-F3
产品简介
详细信息
PXUT-F3型数字超声波探伤仪，该产品体积小、重量轻，TOFD检测与传统超声检测相结合，实现一机多能。
主要特点：
● 日历时钟，仪器自动记录工作日期和时间。
● 具有TOFD功能，可实现TOFD扫查，扫查图谱可现场在线分析，A扫波形可同步回放，便捷实用。
● 20个独立探伤通道（可扩展），多种探伤工艺和标准自动生成，可自由设置各行业探伤工艺标准，现场探伤无需携带试块。
● 国内TFT真彩显示器，屏幕亮度清晰，适应各种操作环境，多种颜色任意调节符合个性化的操作设计。
● 按键背光设计，满足不同检测环境需求。
● 缺陷回波参数（距离、垂直、水平、波幅、dB或当量孔径值）实时显示；多次波探测缺陷的实际深度可直接显示。
● DAC、AVG曲线自动生成，取样点不受限制，并可进行补偿与修正。DAC曲线随增益自动浮动、随声程自动扩展、随延时自动移动；可实现回波的距离波幅补偿。能显示任意孔径的AVG线。制作完DAC曲线仪器可自动读取波幅dB值。
● 进波门和失波门读数及报警，门位、门宽、门高任意可调；双门可同时进波读数。DAC/AVG门功能。
● 4个快捷功能键可自由设置，便于操作与探伤。
● 可输入式增益及可输入式声程，使探伤既快捷又准确。
● 具有峰值记忆、回波包络、波形冻结、曲面修正、门内展宽等功能；具有GB/T11345-2013智能评定功能。具有B扫描功能，直观显示工件缺陷形状，实现检测可追溯管理。完备的焊缝跟工件剖面显示，使探测结果更直观。
● 滤波频带可调，并具有射频显示，适用于各种工件的精确探伤。
● 可利用端点衍射波实现缺陷裂纹的自动测高。
● 数据处理能力强，可按日期、存储编号和序号进行检索和处理，高可靠数据保护，高速数据接口，快速实现报告打印。
● 具有智能拼音输入法，可方便快捷地输入汉字。
● 实现SD卡存储，实时连续记录动态波形，采用国际标准USB接口，具有VGA接口可外接投影仪、显示器，方便培训和教学。
技术参数：
项目 | 指标 | 项目 | 指标 |
频带范围 | 0.4～20.0MHz | 灵敏度余量 | ≥65dB （200mm—Ф2平底孔，2.5PФ20） |
探测范围 | 0～10000mm（钢中纵波） | 采样频率 | 160MHz（实时采样） |
增益范围 | 120dB0.1，1.0，2.0，6.0步进 | 衰减精度 | <±1dB/20dB |
探头方式 | 单晶，双晶，穿透 | 工作温度 | -20ºC～50ºC |
水平线性 | ≤0.1％ | 电 源 | 16V DC；220V AC高性能锂电池 |
垂直线性 | ≤2％ | 工作时间 | ≥8小时(锂电池供电) |
动态范围 | ≥40dB | 显 示 | 5.7”TFT LCD，640×480 |
分 辨 力 | ≥32dB | 外形尺寸mm | 156（长）X 246（宽）X 45（厚） |
触发方式 | 编码器触发、时间触发 | 整机重量 | 1.17Kg（含锂电池） |
如相关产品技术参数发生更改，恕不另行通知。