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时代TT230覆层测厚仪

供应商:
北京时代光南检测技术有限公司
企业类型:
其他

产品简介

详细信息

时代TT230覆层测厚仪

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时代TT230覆层测厚仪

时代TT230覆层测厚仪概述
      时代TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量;可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

时代TT230涂层测厚仪符合以下标准:

  • GB/T 4957-1985 涡流方法
  • JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
  • JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

时代TT230覆层测厚仪

时代TT230覆层测厚仪功能特点
  • 采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
  • (如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
  • 可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
  • 设有五个统计量:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 具有米、英制转换功能
  • 具有打印功能,可打印测量值、统计值
  • 具有欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能
  • 具有自动关机功能
时代TT230覆层测厚仪技术参数
  • 测头类型:N
  • 测量原理:电涡流
  • 测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
  • 探头连接方式:一体化
  • 示值误差:
       1、一点校准(um):±[3%H+1.5]
       2、两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
  • 测量条件:
       1、最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
       2、基体最小面积的直径(mm):ф5
       3、最小临界厚度(mm):0.3
  • 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 统计功能:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 上下限设置:无
  • 存储能力:15个测量值
  • 打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑
  • 关机方式:自动
  • 电       源:二节3.6V镍镉电池
  • 外形尺寸:150×55.5×23mm
  • 重       量:150g
时代TT230覆层测厚仪基本配置
  • 时代TT230涂层测厚仪主机
  • 铝基体
  • 标准片一套
  • 充电器
  • 使用说明书
时代TT230覆层测厚仪可选附件
  • TA230打印机
  • 时代涂层测厚仪选型表