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   可提供全品种的专业级电路板测试、电路板检测的多功能电路板故障诊断系统。由硬件测试平台、可编程软件测试平台、测试夹具（含夹具、治具）组成。硬件测试平台由测试单元组成，可根据测试要求扩充测试单元进而扩充系统的测试功能和测试通道。软件测试平台可以通过代码和非代码编程方式完成测试程序编程，实现测试过程的所有数据和步骤的存档保留，形成流程化、标准化、信息化的测试程序，实现系统软件自动化测试，提高排查故障的准确率和系统的测试效率。

 

系统构成概述：

1.系统硬件测试平台：（各个测试单元可根据测试需要扩充测试模块以达到需要的测试通道）

1)多电源数字集成电路测试单元（数字电路测试单元）：可扩充：2048路测试通道；

2)模拟集成电路测试单元（模拟器件测试单元）；

3)多功能仪表单元（八合一仪表单元）；

4)三维立体V-I-F动态阻抗测试单元（动态阻抗测试单元）可扩充：2048路测试通道；

5)可编程程控电源单元：可根据测试需要扩充电源通道

6)硬件测试框架；

2.可编辑软件测试平台：

1)非代码编程：测试流程管理，形成流程化、标准化、信息化的测试程序；

2)代码编程：自动化、半自动化电路板整板测试，实现电路板批量化测试、电路板生产检验测试、电路板一致性分析测试。

3.测试夹具：

1)测试夹具：日常手工测试所需要的夹具；

2)治具：电路板整板测试的专用测试工装（定制：包括：针床、专用接口板等）
 

1.多电源数字集成电路测试单元（数字电路测试单元）：可扩充：2048路测试通道；单元由ABI-6500模块*2组成

1)128通道（可扩充至2048通道）

2)数字器件功能测试，管脚电压，管脚连接状态，温度拐点系数，数字V-I测试

3)高级逻辑时序发生器

4)电路板故障高级查找功能

5)短路追踪（通断测量）

6)未知型号器件的判别
 

2.模拟集成电路测试单元（模拟器件测试单元）;单元由ABI-2500模块*1组成

1)模拟器件V-I曲线测试，矩阵测试；

2)24路测试通道，2通道探笔测试，2通道同步脉冲输出，3路分立器件测试通道；

3)各种器件的V-I, V-T, I-T曲线测试；

4)模拟集成电路及分立器件测试功能。
 

3.三维立体V-I-F动态阻抗测试单元（动态阻抗测试单元）可扩充：2048路测试通道;单元由ABI-3400模块*1组成

1)规格：64路测试通道+4路探棒测试+4组同步脉冲，可切换为32+32路测试模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲线测试；

3)矩阵测试:对所有管脚间的V-I（阻抗）曲线测试

4)在二维的图形上可显示该曲线各点的电气参数值(V/I)：电压、电流具体数值；

5)设备可以64通道为步进扩充到2048路测试通道。
 

4.多功能仪表单元（八合一仪表单元）;单元由ABI-6350模块*1组成

规格：集成8种常用测试仪器于一体；

1)3通道数字示波器；

2)2通道任意波形发生器；

3)2通道数字电压表；

4)1通道数字电流表；

5)1通道数字电阻表；

6)1通道频率计；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定输出电源。

5.可编程程控电源单元;单元由ABI-1200模块*1组成

1)规格：三路可调输出，可串并联；

2)通道*隔离；

3)每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

4)具备过压、过流保护

5)远端电压监测补偿功能

 

6.硬件测试框架：英国原产19英寸机架式含计算机（可以安装六组模块）
 

中英文软件，可通过编程软件对所有模块进行操作控制

1.具有测试流程记忆功能（软件具有强大的测试流程编辑和记录功能）

2.测试流程的制定贯穿整个测试过程，使电路测试过程形成标准的测试流程（维修流程、生产流程、 测试流程）。可以按照测试要求，保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程。保证了测试工艺的一致性，排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化、工艺化。

3.全面记录各种测试信息。软件可将标准电路板上测量到的管脚电压、连接关系、功能测试结果等  信息以及V-I和V-T曲线图都存储记录到测试流程中，方便随时与其他电路板进行对比，大大简化了测试中需要重复对比的工作。

4.软件在测试流程中允许用户加入对测试步骤的文字说明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等，极大提升了测试效率。

5.图形化测试库编辑器，图形化定义输入激励信号及测试记录输出的标准响应信号，快速建立元器件与电路板测试库，元器件与整板测试库扩充简单、快捷. 非专业人员可以快速扩充测试库。

6.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告可以包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户专有的测试报告，方便测试数据的保存。

7.*中文、英文测试操作软件，中文软件汉化到各级菜单（完整汉化版），提供免费终生软件的升级服务；

8.智能化编程，通过TFL编辑器，可对测试的每个步骤进行编程，TFL编辑器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21个编程命令。
 

1.测试夹具附件，包括：DIL等各种器件测试夹具1套（日常手工测试所需要的夹具）；

2.治具需要定制服务：电路板整板测试的专用测试工装（包括：针床、专用接口板等）；

3.可选配件：SOIC测试夹具、离线测试盒、分立器件测试探笔套装等。

 

1.*硬件系统模块化设计，可根据要求扩充测试模块和测试通道。

2.*软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程。以后的测试就

3.按照流程步骤进行测试，得出相应的结果，并形成数据对比报告。测试流程的制定贯穿整个测试过程，并不断完善测试流程。实时将测试经验、测试信息扩充到测试流程工艺中。完成了流程化设计的电路板可以实现人工快速、半自动化故障排查及板级系统测试，提高排故和测试效率。

4.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户专有的测试报告，方便测试数据的保存。

5.*多电源数字电路测试模块具备64通道数字集成电路在线、离线功能测试（可扩充到2048通道），每个通道可以根据需要分别独立定义为：输入/电压测量、输出/信号驱动或V/I曲线测量；可进行自定义测试，器件与整板的自定义仿真测试。

6.*具备阈值电平临界点扫描测试功能，确定标准板电平临界值，可以检查故障板器件的稳定性。

7.系统可对各种器件进行端口测试： V-I、V-T、V-I-F测试.二维V-I测试低达1Hz频率，三维测试频率高达到10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。

8.变频三维立体V-I-F测量方式，三维立体显示器件的端口特性曲线，可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或电路板，三维立体图形测量测量方式，适合数字及模拟集成电路与电路板的测试。

9.*系统各个模块在同一个专业平台操控下同时运行，完成流程化、步骤化、标准化测试并生成自定义测试报告。

10.*集成8种测试仪器于一体：3通道数字示波器、2通道任意波形发生器、2通道数字电压表、1通道数字电流表、1通道数字电阻表、1通道频率计、8通道通用I/O接口、4路辅助电源。8种常规测试仪器可以并发操作，所有步骤过程可以记录存储并可对比，所有测试数据可以量化，并可以形成测试报告，可对电路板进行仿真测试、调试测试、一致性测试等整板测试。

11.可编程程控电源模块具备3通道隔离电源输出，电源输出由系统软件来控制，三个通道可以支持串并联以增加电压和电流的输出范围。电源供应器模块可根据流程设计，自动开启和关闭测试所需的电源。电源配合其他模块使用，可实现整板测试与多电源测试的流程自动化。

12.多达上万种的数字器件测试库，测试器件库涵盖常用的器件。也可以通过图形化器件编辑器快速扩充与自定义器件测试库。可以通过图形化器件编辑器定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号，快速批量建立元器件和整板测试库。

13.系统含有模拟器件测试库，可对放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应晶体管、光耦器件、AD和DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试。 可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试等。

14.系统可对各种器件进行端口测试：V-I、V-T、I-T测试。测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试.

 

1.多电源数字集成电路测试的高级测试模块(ABI-6500)

该模块具有64个测量通道,可提供多种的测量功能。这些通道可提供全面性故障诊断能力，包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试),集成电路管脚的连接状态和电压值的测量,以及在非加电情况下使用的V-I曲线测试功能，是数字集成电路测试的高级测试模块。系统提供的信息更全面、更准确、测试条件更丰富。仿真测试输入电压可以根据需要-10V～+10V之间自己定义，检测输出的电平阈值也可以自己定义。ABI-6500模块可以更好的检测测试库以外的元器件,实现电路板仿真测试更加方便快捷。

2.模拟电路测试功能模块(ABI-2500) 

在模拟集成电路测试模块中允许对模拟集成电路和分立器件进行功能测试。所有常见的模拟集成电路皆可以测试，系统会依照集成电路在PCB上的电路型态进行功能测试,不需要编辑程序或参考电路图。在该模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能，电路板或集成电路可在非加电的情况下，得到清楚易懂的图形化测试结果.。ABI-2500模块包含标准模拟器件参数测试库。

3.三维立体矩阵式V-I-F动态阻抗混合电路测试模块（ABI-3400）

规格：64通道，三维立体V-I-F测试，适合检测与频率相关的器件特性，强大的矩阵式测试，测试通道可扩展(以64通道步进扩展，高达2048通道)，的同步脉冲测试模式，可制定标准的测试流程及步骤。

4.八合一多功能仪表模块(ABI-6350) 

在八合一多功能仪表模块中，提供了多种高规格的测试及测量用的仪表功能在同一模块之中。此种设计方式适合用于教育及一般用途的电子测量使用。其模块提供了八种常用仪表功能：3通道数字示波器、2通道任意波形发生器、2通道数字电压表、1通道数字电流表、1通道数字电阻表、4通道频率计、8通道通用I/O接口、4路辅助电源.且操作者可以利用软件的自定仪器平台功能,来设计定制化的仪器操作接口。

5.系统专用可调式电源供应器模块(ABI-1200) 

此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源。其具有三组可调式隔离电源输出,三个通道支持串并联，远端电压监测补偿，并同时具有过电压及过流保护功能。

 

1.多电源数字集成电路测试模块: (6500模块*1个)

1.1测试通道数 : 64测试通道（可扩至2048通道）

1.2具有数字V-I曲线测试功能，64路测试通道（可扩至2048通道）

1.3总线隔离信号通道：8通道（4逻辑高+4逻辑低）

1.4可设定输出的逻辑信号电平范围 : -10V ～ +10VDC

1.5具自动扫描目前工作的数字逻辑电平阈值功能

1.6逻辑时序发生器：64通道（可扩至2048通道），模式数 999个/通道

1.7 64个通道可以独自定义为：输入（测量）和输出（驱动），输出信号范围：-10V～+10V，输入信号范围：+20V ～ -20VDC
 

2.模拟电路测试模块：(2500模块)

2.1 V-I测试性能

测量通道：2路探棒通道，2路同步脉冲信号通道，24路测试夹具通道，3路分立器件测试通道；

V-I曲线测试扫描电压范围：2～50Vp-p；

V-I曲线测试扫描频率范围：37.5Hz～12kHz；

V-I曲线测试阻抗范围：100Ω～1MΩ；

V-I曲线测试信号波形：正弦波、三角波、斜波；

显示曲线模式：V-I、V-T、I-T；

测试方式：学习对比、探棒实时对比、矩阵测试；

同步脉冲信号幅度：-10V～+10V； 

同步脉冲输出模式：正脉冲、负脉冲、双向脉冲、DC；

2.2模拟集成电路及分离组件测试功能

测量通道数：24个独立测试通道；

驱动输出电压：-12V～+12V；

驱动输出电流：200mA；

可量测输入电压：±24V；

IC测试封装型态：OP放大器、比较器、DACs、ADCs；

IC测试方式：在线测试, 若OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)；

晶体管测试能力：晶体管、FET、TRIACS、THYRISTOR；
 

3.系统专用可调式电源供给模块功能: (1200模块)

电源供应输出控制可由软件来手动控制开关；

3通道*独立；

每通道：0～40VDC max, 0～8A max, 40W max；

支持串并联，以便增加电压和电流供应；
 

4.八合一多功能仪表模块性能：(6350模块)

 4.1数字储存示波器

测试通道：3路测试通道；

带宽：100MHz；

采样速率：500MS/s (25GS/s ERS 模式)；

输入阻抗：1MΩ；

4.2函数信号产生器：

测试通道：2通道；

输出波形：DC、正弦波、方波、三角波、正脉冲、负脉冲；

输出频率范围：0.5Hz～25MHz；

输出阻抗：50Ω；

4.3通用 I/O：

通道数：8路通用I/O通道；

信道模式：电压输出、电压输入；

提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL逻辑电平的预设值；

4.4电压表

测量通道：2通道；

直流电压测量范围：0～±500V；

交流电压测量范围(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～500V；

显示分辨率：4½ Digits 20,000 Count；

4.5电流表：

测量通道：1通道；

直流电流测量范围：0～±10A；

交流电流测量范围(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～10A；

显示分辨率：4½ Digits 20,000 Count；

4.6电阻表：

测量通道：1通道；

测量范围：0～10MΩ；

连续性：0Ω～ 1kΩ，分辨率：100mΩ；

二极管：测量范围：0V～2V；分辨率：100μV；测试电流：1mA；

显示分辨率：4½ Digits 20,000 Count；

4.7频率计数器

测量通道：1路专用通道+3路DSO共用通道；

频率测量范围：专用通道：1MHz～800MHz；DSO通道：2Hz～100MHz；

输入阻抗：专用通道：50Ω；DSO通道：1MΩ；

电压输入范围：专用通道：±3.3V；DSO通道：±40mV～±8V。；

4.8辅助电源:

电压输出：+5V,+3.3V,+12V,-12V；

电流限制：+5V/1A；+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA；
 

5.三维立体矩阵式V-I-F动态阻抗混合电路测试模块  (3400模块*1个)

5.1测试通道：4路探棒通道，4路同步脉冲通道，64路夹具测试通道；

5.2 V-I曲线扫描电压范围：2～50Vp-p（2、5、10、20、50Vp-p）；

5.3 V-I曲线扫描频率设定范围：1Hz～10kHz（可以1Hz为步进设定）；

5.4 V-I曲线测试阻抗范围：100Ω～1MΩ（100、1k、10k、100k、1MΩ）；

5.5 三维 V-I-F曲线扫描频率范围：10Hz～10kHz（可以1Hz为步进设定）；

5.6 显示曲线模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

5.7 测试方式：存储对比、探棒实时对比、矩阵测试；

5.8 同步脉冲输出设定：单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲；

5.9 同步脉冲信号幅度：-10V～+10V，调整分辨率0.01V；

 

1.模块化设计：可以自由扩充，任意拆分，可以满足不同客户的需求。模块化设计，可以将整机拆分、组合成小仪器使用

2.软件具测试流程记忆功能

ABI的BM-8600采用崭新的测试理念，测试流程的制定贯穿整个测试过程，使电路测试的过程形成标准的测试流程（维修流程、生产流程、检测流程）。

可以按照测试要求，保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程。

以后的测试就按照标准的流程按步骤进行测试，得出相应的结果，并形成数据对比报告。

保证了测试工艺的一致性，排除人为因素的干扰。半熟练的工程人员只需要按部就班的依指示及图示来操作设备，便可以完成所有的检测工作。使测试简单、容易、标准化。

3.对电路板和集成电路可同时进行多种并发测试操作。

包括功能测试，V-I曲线测试，温度拐点系数测试，连接状态测试，管脚电压测试。并且提供全面的测试结果信息，测试效率大大提高。

1）可同一时间完成多种测试，该测试提供信息全面，节省测试时间。

2）测试项目：集成电路的功能测试、V-I曲线测量、曲线拐点温度变化系数、各个管脚电压值测量、管脚连接状态测量显示。

4.图形化编辑元件测试库和整板测试库

采用图形化编程，方便以后扩充元件库和电路板库，方便快捷的建立起测试库中没有的元件库。

图形化元件测试库编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑，方便快捷建立起测试库中没有的元件库。

整板测试非常简单，通过图形化的测试库编辑器，根据电路板原理，定义输入激励信号及输出的标准响应信号，快速建立板测试库，快速批量检测电路板的功能。

5.可测试拐点温度变化系数

V-I曲线测试,可以观测曲线拐点温度变化系数,易于发现一些器件的非固定性故障(或称为软故障)。

6.具短路电阻测量功能

短路电阻测量功能：

三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,并自动探棒校正功能。此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,检查短路点，可判定线路阻抗及通断情况。

7.可逻辑电平阈值自动扫描

逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值临界值,设定循环测试来发现不稳定的错误.

1)逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值，检查不稳定的元器件。

2)逻辑电平阈值可以自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值临界值,设定循环测试来发现不稳定的错误。

逻辑电平阈值自动扫描：逻辑高低电平是一个范围，该种方法是确定集成电路在板系统中能通过的电平具体数值，该数值能反映出集成电路驱动能力的下降问题，方便查找驱动能力下降的器件。

8.*的V-T模式可测量器件的开关时间特性（配合同步脉冲）

•可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.

•测试时将设定好的方波同步到测试信号中，可以观测到三端器件开关时间特性的差异，图中是高频状态，器件的开关时间参数出现问题，图中的差异体现了开关时间的问题。

9.V-I曲线矩阵测试

分别以每个管脚为公共端进行V-I测试，可针对管脚间的阻抗曲线进行测试发现管脚间的阻抗差异，使测量的信息更全面准确。

10.具有分立器件功能测试

1）模拟集成电路测试功能：可对模拟放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应管、场效应晶体管场效应晶体管场效应晶体管光耦器件、AD/DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试.

2）可以对模拟器件的参数指标值进行在线测量：放大倍率 (AV) CTR值 (电流转换比) 、Vled (内部光二极管的导通电压值、Hfe值 (晶体的电流放大倍率)等参数值。

11.的波套设计

八合一多功能仪表6350-示波器*功能-波套

•信号波形通过对比

12.将波形保存成测试步骤（生成测试数据库）

13.变频三维立体V-I-F测量方式，三维立体显示器件的端口特性曲线，可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或电路板。

14.动态阻抗分析功能，可以对图形进行电压、电流参数的测量

 

北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心）提供:

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