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透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统‍‍，如本页面您未找到需要的产品，请直接联系客服

透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。

性能指标

透射电镜指标：

● 兼容电镜型号及极靴；

● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；

● 保证透射电镜原有分辨率。

电学测量指标：

● 包含一个电流电压测试单元；

● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；

● 电流分辨率：优于100 fA；

● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；

● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。

扫描探针操纵指标：

● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纤指标：

● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；

● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；

● 可选SMA接头、FC接头。

产品特色

（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；

（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；

（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。

以上就是提供的透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统-TEM样品杆，关于价格直接咨询。

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