透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统
产品简介
详细信息
透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统，如本页面您未找到需要的产品，请直接联系客服
透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
本系统硬件包括两部分，分别是加热/电学测量控制器、原位MEMS芯片样品杆。软件包括自动控温软件和自动电学测量软件。
性能指标
透射电子显微镜指标：
● 兼容型号电镜及极靴；
● 单倾可选高倾角版本；
● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）；
● 测量电极数可选。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电压输出Z大±200 V，Z小±100 nV；
● 电流测量Z大±1.5 A，Z小100 fA；
● 恒压或者恒流模式；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
加热与温控指标：
● 温度控制范围：室温到1200 ℃；
● 加热功率：Z大30 W；
● 控温稳定性：优于±0.1 ℃；
● Z大升温速率：1000 ℃/ms。
以上就是提供的透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统，关于价格直接咨询。
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