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台式XRF镀层测厚仪X-Strata920

一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。 

     X-Strata920镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。可几秒进行一至四层镀层厚度的测量。多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型。

产品应用：

♦ 电子行业 - 有效控制生产过程，提高生产力

- 分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu

- 测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy

♦ 五金电镀行业 - 电镀表面处理的成本最小化，产量

- 多样品和多点分析

- 单层或多层厚度测量

- 镀液成份分析

♦ 贵金属/金属合金 - 珠宝及其他合金的快速无损分析

- 黄金分析及其他元素测定

- 贵金属合金检测

♦ 一致性检测 -  确保产品符合规格

- 测定有害物质从ppm级到高百分比级

- 有毒元素定量分析，例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定

- 按照IEC62321进行RoHS筛选

- 对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测

♦ 新能源行业 - 确保产品有效一致

- 光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析

- 通过镀层厚度分析优化导电性

产品特点：

♦ 高性能、高精度、长期稳定性

- 快速精确的分析带来生产成本化

- 精确测定元素厚度

- 优化的性能可满足广泛的元素测量

♦ 简单的校准调试

- 无标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果

- 我们提供认证标准片以确保精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）

♦ 可分析多种样品形状和尺寸

- 可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件

- 提供多种硬件供选配，满足各种需要