减反射膜反射比智能测试仪
产品简介
详细信息
减反射膜反射比智能测试仪特点
- 减反射膜反射比智能测试仪是具有良好结构设计和精密的双光束光学系统的仪器，可以测试的材料有：具光学性能的分子材料制成的眼镜片，太阳镜，驾驶用镜，偏光镜等满足GB-10810.3-2006测试标准。
- 关键部件均选用进口器件，滨松无臭氧环保型氘灯，德国欧士朗钨灯，美国派来兹检测器。保证了仪器性能的高可靠性。
- 具有开放式的样品室设计，反射样品架、固体样品架、专用于光学镀膜高反和低反检测、带通滤光片以及眼镜片镀膜曲线测试。
- 扫描曲线可以和TFC膜系设计软件对接，以便镀膜时及时调整参数。
主要技术指标
| ★★光路结构 | CT型 单色器焦距250mm |
| 显示方式： | 6英寸 320×240 点阵带背光数字 LCD |
| ★★光源灯： | 预调日本滨松无臭氧环保型氘灯 欧司朗长寿命卤钨灯 |
| 测光方式 | 透过率，吸光度，能量，反射率 |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 波长范围 | 190nm～1100nm |
| 波长准确度 | ≤±0.3nm |
| 波长重复性 | ≤0.1nm |
| ★光度范围 | 0-999.9%(t),-4A～4A，0-9999C，1-9999F |
| 光度准确度 | ≤±0.3%(t) (0～99%t) ≤±0.002A(0～0.5A) ≤±0.004A(0.5～1A) |
| 光度重复性 | ≤0.15%(t) (0-99%t) ≤0.001A(0～0.5A) ≤0.002A(0.5～1A) |
| 杂光 | ≤0.03%(t) （220nm NaI，360nm NaNO2）） |
| ★稳定性 | ≤±0.0004A/h（500nm，开机预热30min） |
| 噪声 | ≤±0.0003A |
| ★基线平直度 | ≤±0.001A（190～1100nm） |
| ★★导数分辨率 | >0.5 |
| 扫描速度 | 快 中 慢 |
| ★★电源电压 | 100V～240V范围内都可以使用 50/60±1Hz |
| 仪器尺寸
| 650×450×220（mm） |
●光谱测量
峰谷检测 扫描参数设定 扫描图谱
以下为客户样品实测数据：
用户样品镜片反射曲线
导出数据： 另存为文本格式：
