DSF-R1X荧光光谱仪
产品简介
详细信息
打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方
2.X荧光光谱仪仪器硬件部分主要配置
2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器
2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特
2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大
2.2 X 射线激发装置
2.2.1 灯丝电流大输出：1mA
2.2.2 属于半损耗型部件，50W，空冷
2.3 高低压电源
2.3.1 电压>输出： 50kV
2.3.2 小 5kv 可控调节
2.3.3 自带电压过载保护
2.4 多道脉冲幅度分析器
2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件
2.4.2 道数： 4096
2.4.3 包含信号增强处理
2.5 光路过滤模块
2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确
2.5.2 将准直器与滤光片整合
2.6X荧光光谱仪 准直器自动切换模块
2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃
2.7 滤光片自动切换模块
2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换
2.8 准直器和滤光片的自由组合模块
2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合
2.9 工作曲线自动选择模块
2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得 更，使操作更人性，更方便
3. X荧光光谱仪软件配置
3.1 RoHS 有害元素分析软件
3.1.1 专门针对 RoHS 检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果。
3.2 功能介绍 ※ 专门应对欧盟 RoHS 指令中六种物质涉及的五种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr 测试， 测量时间为60-200 秒 ※ 操作界面简洁直观，使用方便，无需熟练人士操作
