沃特世Vion IMS QTof离子淌度四极杆飞行时间质谱分析法-化工机械设备网

沃特世Vion IMS QTof离子淌度四极杆飞行时间质谱分析法

供应商：: 苏州洋嘉电子有限公司

企业类型：: 其他

产品简介

提升的不仅仅是分辨率！在样品分析方面，您是否能超越竞争对手？如果无法分析出样品中的所有成分，或者无法明确所有成分，可能会带来很高的风险，尤其可能导致错误鉴定或者需要额外进行耗时的确认实验

详细信息

提升的不仅仅是分辨率！

在样品分析方面，您是否能超越竞争对手？如果无法分析出样品中的所有成分，或者无法明确所有成分，可能会带来很高的风险，尤其可能导致错误鉴定或者需要额外进行耗时的确认实验。Vion IMS QTof的灵敏度和动态范围可使离子淌度定量功能用于日常分析，从而大幅降低上述风险，让您能够：

降低在DMPK分析中遗漏代谢物的风险
克服食品分析中的复杂基质问题
针对生物制药领域的检测生成高质量的肽图分析数据

降低在DMPK分析中遗漏代谢物的风险

Vion IMS QTof具有集成的离子淌度功能，可提供更强的分离能力，生成更清晰的数据并且大大降低药物代谢物遗漏的可能性。借助支持离子淌度的非数据依赖性采集，Vion可提供高质量MS/MS子离子光谱，无需进行额外的MS/MS或数据依赖性采集(DDA)。这样能够减少分析时间，快速鉴定代谢物。利用离子淌度分离(IMS)数据生成的碰撞截面(CCS)值可用于在整个研发过程中跟踪和确认代谢物，对于无法通过色谱分析区分的异构体代谢物尤为有用。这些功能与UNIFI软件中的代谢物ID工作流程相结合，旨在简化和加快代谢数据的采集和解释流程。了解更多信息。

克服食品分析中的复杂基质问题，增强信心

由于离子淌度分离具有正交性质，Vion IMS QTof通常可以分离共洗脱化合物，并且能够检测出基质中可能隐藏的组分，或者展示不能通过色谱法或质谱法分离的异构物质。此外，Vion会对检测到的每个组分自动生成碰撞截面(CCS)值，使用这些数值与数据库进行比较，能够可靠地确认污染物或代谢物，避免错误鉴定。除能提供清楚的数据之外，Vion的非数据依赖性采集(DIA)模式还会生成碎片离子质谱，从而提供信息量丰富的高质量数据，这些数据可供基于工作流程的软件(UNIFI)使用，以便可靠地确认或剖析化合物身份。了解更多信息。

生成高质量的肽图分析数据

Vion IMS QTof MS提供更高的灵敏度、选择性和更好的结构解析，可用于完整蛋白表征和可比性评估。通过离子淌度的正交分离，肽图分析的特异性以及肽分配的可靠性得以提高。Vion IMS QTof可针对每种肽自动生成稳定的碰撞截面(CCS)测量值。这些值可以自动存储在UNIFI的科学数据库中，并用于在单个平台内进行目标肽监测。更高的选择性有助于分离异构物质，同时分离峰容量的显著提高使快速进行肽图分析成为可能，而且不会影响序列覆盖率。了解更多信息。

更快获取正确结果

样品的复杂性和目标化合物的异构水平为天然产品的分析研究带来了非常大的挑战。超高效液相色谱(UPLC)、飞行时间质谱和离子淌度相结合，可实现高度特异性，从而能够提供更清晰、更全面的数据。再结合UNIFI软件平台的高级剖析和数据库搜索功能，研究人员可以挖掘更高级别的信息并且更快获取正确结果。了解更多信息。