TIME2601覆层测厚仪
产品简介
详细信息
一、功能特点：
采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有存贮功能：可存贮640个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；
具有电源欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
二、标准配置：
主机、打印机、F头或N头、标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、铁基体或铝基体、充电器
三、可选附件：
探头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信线缆、通信软件
四、产品应用：
五、技术参数：
| 测头型号 | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 | ||
| 工作原理 | 磁 感 应 | 涡 流 | ||||||
| 测量范围(mm) | 0～400 | 0～1250 | 0～1250 | 0～10000 | 0～1250(铜上镀铬0～40) | 10～200 | ||
| 低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值 | 一点校准(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
| 误差 | 二点校准(mm) | ±((1～3)%H+0.7) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+10) | ±[(1～3)%H+1.5] |
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| 测 试 条 件 | *小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 仅为平直 |
| *小面积的直径(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | ||
| 基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 无限制 | ||
注：H——标称值
测头选用参考表：
| 覆盖层
基体 | 有机材料等非磁性覆盖层（如漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等） | 非磁性的有色金属的覆层 （如铬、锌、铝、铜、锡、银等） | |||
| 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | ||
| 如铁、钢等磁性金属 | 被测面积的直径大于30mm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm | F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
| 被测面积的直径小于30mm | F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm | |
| 如铜、黄铜、铝、锌、锡等有色金属 | 被测面积的直径大于5mm | N1型测头0-1250μm | N1型测头只能测铜上镀铬0-40μm | ||
| 塑料、印刷线路板等非金属基体 | 被测面积的直径小于7mm | - | - | CN02型测头10-200μm （主要用途测铜箔厚度） | |