原子力显微镜工作站AFM5000II
产品简介
详细信息
AFM5000Ⅱ工作站采用新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。
1. RealTune® II 新的参数自动设置功能
·参数自动设置功能！
RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，*效率、高精度地调整成合适的测量条件。
·通过新增加的参数自动设置功能（RealTune® II），可实现一键（One Click）测量。原来需要zhuan业操作才能完成的测量，现在即便是新手也可以轻松胜任。
·也可用于高难度样品。
【实例1】纤维状的碳纳米管结构体（壁虎胶带）
【样品提供：日东电工股份公司】
以往的方法
这些样品需要对参数进行精细的调整，操作难度很高，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
新处理方法
自动设置成合适的条件，可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行准确测量。
【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜（并五苯多结晶薄膜）
【样品提供：神户大学北村研究室】
以往的方法
这种样品，表面容易损坏，易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。
新处理方法
自动设置成合适的条件，稳定地测量分子级别上的台阶结构。
2. 图标用户界面（Graphical Use Interface）
简单的菜单设置
·明了易懂的图标、严格筛选的图片信息，初学者和有经验的操作员，都能够轻松掌控！
·可通过选项卡在测量及分析之间相互切换，画面简洁明了。
3. 3D覆盖功能
能够将样品形貌及物理特性叠加显示，并能构画出3D画面，可以通过视觉感受表示样品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能
配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。
5. 小型化设计
·轻便的小型化外形，适合各种场地摆放。
·220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
技术参数
| OS | Windows®7 |
|---|---|
| 连接机型 | AFM5100N、AFM5300E |
| RealTuneII | 悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
| 操作画面 | 导航功能、多图显示功能（测量/分析）、3D叠加功能、扫描范围/测量记录显示功能、数据分析批量处理功能、探针评估功能 |
| X,Y,Z扫描电压 | XY（±200V/18bit） Z（±200V/26bit） |
| 多画面测量 | 4画面（*大2048×2048） 2画面（*大4096×4096） |
| 长方形扫描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
| 分析软件 | 3D显示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
| 尺寸、重量 | 220 mm（W）×500 mm（D）×385 mm（H）、约15 kg |
| 电源 | AC 100V～240V±10%、单相 |