38DL PLUS 日本奥林巴斯Olympus 38DL PLUS测厚仪-化工机械设备网

38DL PLUS 日本奥林巴斯Olympus 38DL PLUS测厚仪

供应商：: 笃挚仪器（上海）有限公司

企业类型：: 其他

产品简介

38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的精确的壁厚测量。

详细信息

产品描述

38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的精确的壁厚测量。 38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在的黑暗中都能具有良好的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

◇双晶与单晶探头
◇坚固耐用，设计符合IP67标准
◇厚度测量范围为0.08毫米～635毫米
◇彩色透反VGA显示

这款测厚仪与其他测厚仪有何不同？

38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。

主要特点：

可与双晶和单晶探头兼容。

宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层/沉积物软件选项。
对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，

高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。

多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
厚度、声速和渡越时间测量。
差分模式和缩减率模式。
时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
设计符合EN15317标准。

简便操作的设计理念

可用右手或左手单手操作的简洁的键区。

可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
内置和外置microSD存储卡。
USB和RS-232通讯端口。
可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
可连接计算机或显示器的VGA输出。
默认或自定义双晶探头设置。
默认或自定义单晶探头设置。
密码保护功能可以锁住仪器的功能。

对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量：

38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中常使用的是双晶探头。

用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。
10个自定义双晶探头设置。
校准过程中用于双晶探头的优化默认增益。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。
用于测量带有漆层和涂层表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。
高温测量：温度可高达500°C。
锅炉管件和内部氧化层测量（可选项），使用M2017或M2091单晶探头。
EMAT探头（E110-SB），用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量。

对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供各种频率、直径和接口类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率为0.001毫米的精确的厚度测量。

对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

在使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头的情况下，

高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。

高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。

测量厚度、声速或渡越时间。

带有默认和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量。

技术参数
测量	双晶探头测量模式	从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。
	穿透涂层测量模式	利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
	穿透漆层回波到回波测量模式	在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
	单晶探头测量模式	模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。模式2：延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。模式3：在激励脉冲之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。氧化层模式：可选。多层模式：可选。
	厚度范围	0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
	材料声速范围	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
	分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米标准分辨率：0.01毫米高分辨率（可选项）：0.001毫米
	探头频率范围	标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般规格	工作温度范围	-10°C～50°C
	键区	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。
	机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
	外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
	重量	0.814公斤
	电源	AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。
	锂离子电池供电时间	工作时间：少12.6小时，一般14小时，多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。
	标准	设计符合EN15317标准。
显示	彩色透反VGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
	检波	全波、RF波、正半波、负半波
输入/输出	USB	1.0从接口。
	RS-232	有。
	存储卡	*大容量：2 GB外置microSD存储卡。
	视频输出	VGA输出标准。
内置数据记录器	数据记录器	38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
	容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。
	文件名称、ID编码及注释	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。
	文件结构	9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
	报告	机载报告总结了数据统计、带有位置信息的小值/大值、*小值回顾、文件比较及报警报告。