Xevo G2-XS Tof（飞行时间质谱仪）
产品简介
详细信息
产品概述
§ 结合StepWave™离子光学组件和XS碰撞室技术，保持着一如既往的良好选择性，同时带来灵敏度的显著提升。
§ 长时分析期间，关键的硬件组件可持久保持洁净，为您提供更重现性的结果，保证实验室生产效率。
§ 分析大量样品时，可获取比以往更多、更有意义的组分信息，帮助您全面深入了解样品，制定更可靠的决策。
§ 本系统可在短时间内收集充分了解样品所需的详尽、准确的各目标组分定性及定量信息，完整展现出现代分离技术的优势。
优势特点：
§ 保证性能的同时提升稳定性
§ 通用离子源结构
通用型离子源结构可以将单一分析平台用于多种不同应用和化合物类型，并可以根据需求和优先情况的变化添加新的功能。所有离子源选件都设计为可快速互换，并在数分钟内即可使用。
§ 高稳定性
当样品中不同组分的浓度相差很大时，仍需根据峰面积和精确质量数准确测定每种成分。
§ 全面的定性和定量信息
利用Xevo G2-XS Tof，您可以快速轻松地设计出一个实验，无论是否进行色谱分离，都可为每种可检测组分收集精确质量数母离子和碎片离子数据。
配置
离子源 | ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™ |
启动软件 | IntelliStart |
数据采集 | UPLC/MSE |
碰撞室 | XS碰撞室 |