SYNAPT XS高分辨率质谱仪
产品简介
详细信息
产品概述
§ SYNAPT XS质谱仪具有灵活性，可提供更大的选择自由度。
§ 凭借沃特世高级质谱“SELECT SERIES”传承下来的技术基石，内置*的创新技术，确保使用该平台的科学家处于质谱分析的，同时维持SYNAPT的易用性和成熟的客户端工作流程。
§ 重新设计的分段四极杆传输光学元件，提升棘手化合物的分析灵敏度，同时进一步提高分析稳定性。
§ 针对最复杂的样品，提供兼容UPLC的质量分辨率、耐受各种基质的动态范围和定量分析结果，同时提供的性能指标。
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优势特点
§ 创新技术作为基石，提供异的分析性能
§ SONAR和HDMSE提供一套的工具包，用于解析复杂混合物。
完整的分析策略需要结合适当的互补技术才能得到更全面的数据信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非数据依赖型采集(DIA)操作模式，分析人员能够利用互补机制，以无二的方式解析复杂混合物。
§ 离子淌度功能大大增加了峰容量和分析选择性
§ 传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中，使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数，对分子进行分离。
§ CCS测量可提高化合物鉴定的准确性
离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。运用离子淌度技术，显著提高了科学家分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。
§ CID与ETD碎裂功能
TriWave的双碰撞室结构可进行碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂，且分辨率高、质量测定准确，能够拓展MS/MS检测能力。
§ TAP碎裂
配置
离子源 | ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™ |
传输模式 | UPLC/Tof MRM |
数据采集 | UPLC/MSE |
碰撞室 | XS碰撞室 |
数据分析 | UPLC/FastDDA |
