JEM-F200 场发射透射电子显微镜
产品简介
详细信息
JEM-F200 场发射透射电子显微镜
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
产品规格：
| 超高分辨极靴 | 高分辨极靴 |
|
| 分辨率 | ||
| TEM点分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
| STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷场枪 | 0.16 nm @冷场枪 |
| 0.16 nm @热场枪 | 0.16 nm @热场枪 | |
| 加速电压 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
| 主要选配件 | 能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统 | |
产品特点：
· 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
外观设计精炼
· 精炼的外型，全新的视觉感受。
为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。
四级聚光镜系统
· 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。
扫描系统
· JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。
皮米样品台驱动
· JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。
SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置）
· 插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。
改进的冷场发射电子枪
· JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。
双能谱（SDD）
· JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。
环保节能
· JEM-F200是个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的条件。该设备具有排程功能，能在的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。