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   　　ZEISS Sigma系列产品

　　用于高品质成像与高级分析的蔡司场发射扫描电子显微镜

　　灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能

　　将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。

　　Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。

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　　灵活的检测器选项，获取清晰图像

　　使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。

　　使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。

　　使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。

　　使用HDBSD或YAG检测器分析成分。

　　用户友好,操作简单

　　SmartSEM Touch是现已有操作系统的附加组件，用于多用户环境，是一种简洁的用户界面。

　　它同时为操作经验丰富的专家用户和初级用户提供了简便的操作。

　　基于实际的实验室环境，SEM的操作可能是电子显微镜专家的专属领域。

　　但是，非专业用户(例如学生，接受培训不久的人员或质量工程师)也需要使用SEM获取数据，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP将非专业用户的需求考虑在内，其用户界面选项可满足操作经验丰富的显微镜专家和显微镜新手用户的操作需求。

　　特点：

　　用于清晰成像的灵活探测

　　利用*探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。

　　利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。

　　利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

　　自动化加速工作流程

　　4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

　　首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

　　接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的步，将结果可视化。

　　高级分析型显微镜

　　将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

　　在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

　　获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。