X-4A 显微熔点仪
产品简介
详细信息
测定物质的熔点。主要用于**、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示*小值：0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
测定物质的熔点。主要用于**、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示*小值：0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×