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FEI SEM Apreo 扫描电子显微镜革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生*的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。
FEI SEM Apreo 扫描电子显微镜受益于的透镜内背散射探测，这种探测提供的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式，现在的zui大样品仓压力为 500 Pa，可以对要求zui严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。
*的复合末级透镜可在任何样品（甚至在倾斜时貌起伏大）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。
作用极大的背散射探测始终可保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
无比灵活的探测器可将各个探测器分割提供的信息相结合，让用户能够获得至关重要的对比或信号强度。
各种各样的电荷缓解策略，包括仓室压力zui高为 500 Pa 的低真空模式，可实现任何样品的成像。
的分析平台提供高电子束电流，而且束斑很小。仓室支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析而优化的低真空系统。
样品处理和导航极容易，具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。