WGJSTD-B/B1型 WGJSTD-B/B1型介质损耗及介电常数测试仪
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详细信息
WGJSTD-B/B1型介质损耗及介电常数测试仪的详细介绍
| 详细介绍 |
| 1、《S916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。S916介质损耗测试装置是本公司*新研制的更新换代产品，精密的加工设计、**的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《WGJSTD-B/B1介质损耗及介电常数仪》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的**设计代表了行业的*高成就，随之带来了频率、电容双扫描(B1型)的全新搜索功能。该表具有的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取*高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 WGJSTD-B/B1介质损耗及介电常数仪的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的**度和测量的同一性，是人工读值和人工计算的。 4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（S916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组，共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。 |