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JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha 高解析气相层析飞行时间质谱仪 GC-TOF

供应商：
科迈斯科技股份有限公司
企业类型：
其他

产品简介

日本电子JEOL推出JMS-T2000GCAccuTOFGC-Alpha是第六代GC-TOFMS，具有新一代的离子光学系统，可实现高效率离子传输（灵敏度）和超高解析力

详细信息

  • 日本电子JEOL推出JMS-T2000GC AccuTOF™GC-Alpha是第六代GC-TOFMS，具有新一代的离子光学系统，可实现高效率离子传输（灵敏度）和超高解析力。

    关键技术一：高性能飞行质谱仪

    ■ AccuTOF™GC-Alpha的基本性能

    AccuTOF™GC-Alpha为二阶段反射电子管的正交加速飞行时间质谱仪（oaTOFMS）。 它采用了的离子光学系统，可实现高效率离子传输（灵敏度）和超高解析力。
     
    高灵敏度检测极限：IDL = 18.7 fg 宽幅质量范围：〜m / z 6,000
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    Mass separation of m/z 28
    高质量解析力：30,000    		 高质量精度：1 ppm
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    高速数据采集：50 Hz
    提供GCxGC及Fast GC应用    		 大宽幅动态分析范围：4级数
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    ■ 多样软性游离源提供新的定性分析功能
     
    FI和FD〜EI / FI / FD组合离子源（可选）                       

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    单一离子源，具有EI（硬性离子源）和FI / FD（软性离子源）技术，可自动快速切换EI和FI / FD模式。
    特征
    • 无需更换离子源
    • 无需打破真空
    • 无需反应气
    通过将此组合离子源与GC结合使用，可以进行以下分析：
    • GC / EI通过图书馆检索进行定性分析
    • GC / FI用于分子量测定
    • 精确的质量测量
     
    FI和FD〜确定分子量的理想软电离技术

    FI和FD是极软性的游离化技术，与EI甚至CI相比较，提供分析物的能量更低，从而产生清晰的分子离子。
    FI（场离子化）
    • 样品通过GC或标准样品入口系统引入离子源。
    • 与CI不同，FI不使用反应气。
    • 无需选择适合分析物的反应气。
    FD（场脱附）
    • 样品被施加到发射器上并直接引入系统中。
    • 适用于热不稳定化合物的分析。
    • 非常适合可溶于非极性溶剂的样品。
    • 分析可分散在溶剂中的粉末样品。
    • 分析低至中极性的金属错合物。
    • 分析GC-MS不支持的高分子量样品，例如聚合物。

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    PI（光离子源）〜EI / PI组合离子源

    PI是一种软性游离方法，使用真空紫外（VUV）灯的光子进行电离。 AccuTOF™GC-Alpha具有可选的组合离子源，可同时提供EI（硬性游离源）和PI（软性游离源）。 通过简单地打开/关闭EI灯丝和PI灯，此离子源就可以在EI和PI之间进行切换。
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    PI非常适合分析复杂混合物中的芳族化合物。 这些化合物强烈吸收UV光产生高强度峰。
     
    关键技术二：新一代分析软件可实现简单，快速的操作

    ■ 自动化图谱分析软件：MsFineAnalysis

    MsFineAnalysis为非特定目标(non-target)分析软件，结合EI / SI图谱数据进行定性分析，自动完成数据库比对、分子离子确认、精确质量、同位素分析、碎片离子比对等分析，提供了快速有效的数据分析，可以轻松地对未知化合物以及未在EI质谱库中注册的化合物进行定性分析，使用户大量减少分析数据的时间，而将更多的时间用于研究和创造！
    可以直接比较两个相似的样本进行差异分析，对于制程管控、质量管理、竞品比对具有强大的分析功能！
    msFineAnalysis的功能
    • 自动结合EI / SI图谱数据进行定性分析
    • 层析峰反折积(deconvolution)
    • 组别分析提取具有常见次结构的化合物
    • 直接比较两个样品光谱差异分析
    • 亦可对单一EI图谱数据进行分析
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    ■ AccuTOF™GC-Alpha不只是GC-TOFMS，更是直接进样的Direct MS

    直接MS模式（不使用GC）可用于分析不适用于GC的高沸点和高质量化合物，可以将高沸点、高分子量和非挥发性化合物直接引入离子源中。AccuTOF™GC-Alpha的质量范围为m / z 6,000或更高质量范围，因此可运用在大分子量化合物分析应用。
     
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    ► DEP (Direct Exposure Probe)
    • 将溶解或分散在溶剂中的样品添加到的细丝上
    • 适用于高沸点和/或热不稳定化合物
    • 与EI和CI兼容使用
     

    ► DIP (Direct 2028_18_enInsertion Probe)
    • 可以将固体样品引入玻璃样品管中。
    • 适用于高沸点和/或不溶性化合物
    • 与EI和CI兼容使用


     

    2028_19_en► FDP (Field Desorption Probe)
    • 将溶解或分散在溶剂中的样品施加到的碳发射器上。
    • 适用于高沸点，高分子量和/或热不稳定的化合物
    • 适用于中低极性金属配合物
    • 用于FD软性游离法

     
    ■ 通过FD探头和Kendrick质量缺陷（KMD）分析进行聚合物分析
    FD是一种电离方法，添加在发射器化合物会被高电场解吸并电离。 在测量过程中，流经发射器的电流可逐渐增加，因此可以在不同时间下，解离混合物中的成分，提取特定类别化合物的质谱。 此外，即使在电离过程中化合物未及时分离时，通过创建KMD图仍可以清楚地分离目标化合物。

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  • 项目 规格
    Ion Source Electron Ionization
    Analyzer Reflectron Time-of-Flight Mass Spectrometer
    Detector Dual Micro Channel Plate
    Data Acquisition System Continuous Averager
    Gas Chromatograph Agilent 8890
    Data System Included
    Major Options EI/FI/FD combination ion source
    EI/PI combination ion source
    CI ion source
    FD/FI ion source
    DIP
    DEP
    Speed Data Acquisition 50 Hz
    Mass Range ~m/z 6,000
    Instrument Detection Limit IDL=18.7 fg
    Dynamic Range 4 orders
    High Mass Accuracy 1 ppm
    Mass Resolving Power 30,000
  • ▶ 未知物定性、定量分析
    ▶ 高分子材料、聚合物分析(单体、添加剂、寡聚物)
    ▶ 竞争品分析、竞争品比对
    ▶ 未登入化学物质定性
    ▶ 质量管理、异常品比对
    ▶ GCXGC应用、生物标记应用
    ▶ FAST GC应用
    ▶ 食品检验、油品分析
    ▶ 石化产业
    ▶ 有机合成
    ▶ 环境分析
    ▶ 代谢物分析
    ▶ 有机金属分析
    ▶ 香料分析