场发射透射电子显微镜（TEM）
产品简介
详细信息
1、主要功能及应用范围：
FEI TECNAI G2 F20仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，能获取TEM明场、暗场像高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析，利用三维重构软件进行样品的三维重构和分析。
该仪器可完成材料组织形态、晶体结构、化学成分、界面结构,表面和缺陷等方面的测试与分析，可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学， 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。
2、主要规格及技术指标：
加速电压：200KV
放大倍数：25K-1030K
点分辨率：0.24nm
线分辨率：0.102nm
信息分辨率：0.14nm
样品倾斜角度:< ±30°
相机常数: 30-4500 mm；
电子枪：肖特基热场发射电子枪
球差系数Cs/色差系数Cc：1.2mm/1.2mm