XTU-50A(0.5)X荧光测厚仪
产品简介
详细信息
性能优势:
下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。
无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。
微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,最小检测面积可达0.002mm²。
高效率的接收器:在检测0.01mm²以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。
精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速精准定位所需检测的样品。
EFP*算法软件:可检测单镀层,多镀层,多元合金,甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析,包括轻金属镀层,非金属镀层,达克罗,Nip镀层测试,包括Ni与P的比例也均可检测。
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片电动切换,满足各种测试方式的应用。
新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率。
防护装置:恒压恒流快门式光闸,拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护。
技术参数:
测量元素范围:CI(17)-U(92)
涂镀层分析范围:CI(17)-U(92)
分析软件:EFP,可同时分析5层镀层,10种元素,不同层有相同元素和有机物厚度也可分析
测试程式添加:1862条测试程式免费提供,也可编辑新程式
软件操作:人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误
X射线装置:升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管
接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm²
射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器
视频观测光路系统:垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头
测样读取开启方式:恒压恒流快门式光闸
滤光片:铝、空、镍
准直器:ø0.5mm
最近测距光斑扩散度:10%
最小测量面积:约0.04mm²
测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异形样品,变焦距离0-30mm
样品观察:1/2.5彩色CCD,全局快门,有效像素:1280*960,变焦功能
对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦
放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍
样品台尺寸:500mm*360mm
样品可放置区域:480mm*320mm*205mm(C型开槽设计,特殊测试时可以超出区域放置样品)
外部尺寸:540mm*430mm*475mm
移动方式:高精密XY手动滑轨
可移动范围:40mm*50mm
电源:交流220V 50HZ
功耗:120W(不包括计算机)
冷却系统:对流通道过滤式风冷
保养升级模块:软硬件模块化
环境要求:使用时温度:10℃-40℃ 存储和运输时温度:0℃-50℃ 空气相对湿度:≤80%
重量:约45KG
随机标准片:十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu
其他附件:电脑一套、喷墨打印机、附件箱