半导体中空玻璃露点仪
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半导体中空玻璃露点仪产品用途：用于检测中空玻璃露点测试。
半导体中空玻璃露点仪产品适用标准：GB/T11944-2012《中空玻璃》
半导体中空玻璃露点仪技术参数：
1、冷测头的温度：＜-60℃
2、温度分辨率：0.1℃
3、测试箱 长×宽×高（mm）：1040×550×820
4、测温精度：±0.5℃
5、时间范围：1~10min（可任意设定）
6、时间分辨率：1s
7、配带动力：交流220V, 功率：0.6Kw
8、自重：40kg
半导体中空玻璃露点仪主要特点：
1、运用*的复迭式压缩机制冷技术；
2、操作简单，显示直观。