GH-8001C 显微推拉力测试仪
产品简介
详细信息
一、设备名称:显微推拉力测试仪
二、设备型号:GH-8001C
三、产品说明:
显微推拉力测试仪(微焊点强度测试仪器)是用于微电子封装和pcba电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器,是微电子和电子制造领域的重要仪器设备。可自动完成测试并记录测试数据、并能显示力-位移、力-时间的坐标曲线参,并能保存测试数据和生成测试报表。双显示系统实时高清放大测试过程。
四、测试功能:
1、内引线拉力测试;
2、微焊点推力测试;
3、芯片剪切力测试;
4、SMT焊接元件推力测试
五、技术参数:
1.型号:GH-8001C
2.精度等级:0.5级;
3.负荷:100N,200N,500N(任选)
4.有效测力范围:0.3-99%;
5.测力精度:示值的±0.5%以内;
6.试验力分辨率:1/500,000,且全程分辨率不变;
7.有效试验宽度:200 mm;
8.有效试验长度:200 mm;
9.有效试验高度:200 mm;
10.测试头配置:推力测试头一个
11.试验速度范围:0.01~200mm/min无级调速;
12.XY轴移动速度:0.01~500mm/min无级调速;
13.速度精度:示值的±0.5%以内;
14.位移测量精度:示值的±0.5%以内;
15.功率:AC220V±10%1200W;
16.主机尺寸:650×550×1400mm(l*w*h);
17.主机重量:约130kg;
*详细技术参数请联系我司索取。
l国泓仪器/芯片推力试验机