CHY-C2 薄膜测厚仪
产品简介
详细信息
CHY-C2测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
本测厚仪采用进口优质传感器，测厚分辩率高达0.1微米，选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。