TSD-36F-2P 高低温剧烈冲击试验箱 半导体器件评估
产品简介
冷热冲击试验箱能模拟高温与低温之间的瞬间变化环境。从而判断产吕的可靠性及稳定性能等参数是否合格。将提供给您预计和改进产品的质量和可靠性依据。 用于检测电子、汽车、橡胶、塑胶、航太科技、科技及高级通信器材等产品在反复冷热变化下的抵抗能力。
详细信息
高低温剧烈冲击试验箱 半导体器件评估
概述：
目的是考核产品承受温度剧烈变化，即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效执冲击试验与温度循环试验的目的基本一致，但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。
冷热冲击试验箱根据待测试样的特殊性，三箱式静态冲击，既可作冷热冲击试验也可以做单独高温或单独低温使用。模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等，同时可通过此试验，进行产品的质量控制
特点：
1．采用进口LCD中英文显示触摸式温湿度控制器，操作简单，程式编辑容易。
2．可显示完整的系统操作状况相关资料、设定程式曲线、开机注意事项、机器维护保养方法。
3.运转中发生异常状况，萤幕上即刻自动显示故障原因并提供排除故障方法。
4.采用多巽式送风机送风循环，温度分布均匀。
5．可加装记录器，将温湿度曲线记录。
6．附R232接口，可电脑连接操作。
三箱温度冲击试验箱满足的试验方法有：GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87405温度冲击试验；GB/T2423.22-2002温度变化；GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。
内尺寸可选择：宽36*高35*深40cm；二：宽50*高40*深40cm；三：宽60*高50*深50cm；四：宽70*高60*深60cm；五：宽100*高100*深100cm。
温度范围（范围内任选）可以选择，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高温影响价格不大，所以般默认为150度限高温。
温度转换时间:10秒以内,温度冲击恢复时间：≤5min。
温度波动度：±0.5℃;温度偏差：±2℃
高低温剧烈冲击试验箱 半导体器件评估
技术参数：
1、温湿度控制仪表：可编程台通TT-5188控制器，7寸大屏幕，触摸屏输入，中英文切换。根据用户要求可任意设定不同温度段做冲击试验。
2、箱体结构：高温蓄热区，低温蓄冷区，产品测试区。
3、测试箱温度冲击范围：-65℃～+150℃（可编程任意设定）也可选择更小的温度。
4、蓄热箱温度范围：+50℃～+180℃（可编程任意设定）。
5、蓄冷箱温度范围：0℃～-65℃（可编程任意设定）。
6、控制器控制精度：±0.2℃。
7、温度冲击速率：5min内完成。
8、外壳材料：不锈钢板。
9、内箱材料：SUS＃304加厚耐热耐寒不锈钢板，一级光面板。
10、保温材料：高密度玻璃棉及高强度PU发泡绝缘材料。
11、箱体均匀度：±1℃。
12、送风循环系统：采日制多翼离心式循环风扇，日制马达整组。
13、加热器：U型鳍片式304#无缝钢高速加温电热器。
14、制冷压缩机：采用法国泰康加大匹全封密压缩机。
15、制冷配件：台弯中力蒸发器、马尔风机等。
16、制冷方式：采用水冷导热，爱佩科技免费赠送水塔及安装。
17、样品架：样品层置物架。
18、保护装置：压缩机过热，超温，超载，高压，低压，油压，过流，欠相，停电待机等报警警示。
19、电源：AC380V50~60Hz20~25KW。
