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薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
　　本测厚仪采用进口优质传感器，测厚分辩率高达0.1微米，选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。

薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm常规0～6mm可选
分 辨 率:0.1μm         
测量速度：10次/min可调
测量压力：17.5±1kPa薄膜；〔50±1kPa纸张〕
接触面积：50mm2薄膜；〔200mm2（纸张）〕

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本信息由LABTHINK兰光销售部　：　蒋娜　发布。